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番号 発明の名称
1 光電変換膜、光電変換素子、及び撮像素子、並びに、これらに電場を印加する方法
2 固体撮像素子
3 マイクロレンズ、その製造方法、マイクロレンズを用いた固体撮像素子およびその製造方法
4 固体撮像素子のダイボンド方法及びその装置
5 固体撮像素子
6 有機電界発光素子
7 膜形成用組成物、絶縁膜、およびその製造方法
8 固体撮像素子
9 固体撮像素子の製造履歴管理方法及びその装置並びに固体撮像素子の試験方法
10 有機電界発光素子
11 固体撮像素子及びその駆動方法
12 固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子
13 半導体装置およびその製造方法
14 固体撮像素子およびその製造方法
15 固体撮像素子およびその製造方法
16 固体撮像装置及び固体撮像装置の製造方法
17 半導体レーザ光源
18 レーザモジュール
19 燃料電池用触媒材料、触媒膜、電極膜接合体および燃料電池
20 燃料電池用触媒材料、触媒膜、電極膜接合体および燃料電池
21 有機電界発光素子
22 電子機器、および撮影装置
23 固体撮像素子
24 固体撮像素子の製造方法および固体撮像素子
25 放射線画像検出システム
26 携帯型電子機器
27 光電変換素子及び撮像素子
28 光電変換膜、光電変換素子、及び撮像素子、並びに、これらに電場を印加する方法
29 光電変換膜、光電変換素子、及び撮像素子、並びに、これらに電場を印加する方法
30 光電変換膜積層型固体撮像素子
31 光電変換素子、撮像素子、並びに、光電変換素子および撮像素子に電場を印加する方法
32 光電変換膜積層型固体撮像素子
33 光電変換膜、光電変換素子、及び撮像素子、並びに、これらに電場を印加する方法
34 光電変換素子、撮像素子、および該光電変換素子の製造方法
35 光電変換膜、光電変換素子、及び撮像素子、並びに、これらに電場を印加する方法
36 積層型圧電素子及びそれを用いる装置、並びに、積層型圧電素子の製造方法
37 カラー固体撮像装置及びデジタルカメラ
38 レーザはんだ付け方法及びレーザはんだ付け装置
39 有機光電変換素子、および積層型光電変換素子
40 固体撮像素子およびその製造方法
41 レーザモジュール
42 光電変換素子
43 電池の接点構造
44 固体撮像装置
45 固体撮像素子およびその製造方法
46 有機電界発光素子
47 レーザはんだ付け方法及びレーザはんだ付け装置
48 光電変換素子及び固体撮像素子
49 塵埃除去装置
50 有機電界発光素子及び錯体化合物
51 有機電界発光素子
52 有機電界発光素子及びその製造方法
53 放射線画像検出器
54 光電変換素子及び固体撮像素子
55 固体撮像素子およびその製造方法
56 半導体検査用ボード
57 固体撮像素子の製造方法
58 有機電界発光素子
59 光電変換素子及び固体撮像素子
60 MOSイメージセンサ
61 MOSイメージセンサ
62 MOS型固体撮像装置及びその製造方法
63
64 光検出素子
65 金属用研磨液、及び、化学機械的研磨方法
66 有機電界発光素子
67 電子放出素子、その製造方法および表示素子
68 有機電界発光素子の微細パターン化方法、およびそれにより得られた有機電界発光素子
69 容量性EL素子駆動回路
70 フレキシブルケーブル
71 多孔薄膜堆積基板、その製造方法及びスイッチング素子
72 多孔薄膜堆積基板、その製造方法及びスイッチング素子
73 研磨方法
74 有機光電変換素子、および撮像素子
75 撮像装置およびその製造方法
76 固体撮像素子およびその製造方法
77 有機電界発光素子
78 有機電界発光素子
79 貴金属用研磨液、及び、化学的機械的研磨方法
80 透光性電磁波シールド膜の製造方法、該製造方法により得られた透光性電磁波シールド膜、ディスプレイパネル用フィルム、ディスプレイパネル用光学フィルター及びプラズマディスプレイパネル
81 透光性電磁波シールド膜、ディスプレイパネル用フィルム、ディスプレイパネル用光学フィルター及びプラズマディスプレイパネル
82 カーボン配線用研磨液、及び、研磨方法
83 金属研磨液及びそれを用いる研磨方法
84 水系研磨液及び化学機械的研磨方法
85 固体撮像装置の切断方法
86 板状部材の切断方法
87 化学的機械的平坦化方法
88 金属用研磨液及び化学的機械的研磨方法
89 圧電素子及びその駆動方法、圧電装置
90 光源装置および光半導体素子
91 水系研磨液及び化学機械的研磨方法
92 水系研磨液、及び、化学機械的研磨方法
93 フレキシブル基板、撮影装置、及び基板間接続構造
94 光電変換素子及び撮像素子
95 大容量性ELパネル駆動回路
96 バリア層用研磨液
97 研磨方法
98 放射線画像検出器
99 プローバ装置及び半導体デバイスの検査方法
100 化学的機械的平坦化方法

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