米国特許情報 | 欧州特許情報 | 国際公開(PCT)情報 | Google の米国特許検索
 
     特許分類
A 農業
B 衣類
C 家具
D 医学
E スポ−ツ;娯楽
F 加工処理操作
G 机上付属具
H 装飾
I 車両
J 包装;運搬
L 化学;冶金
M 繊維;紙;印刷
N 固定構造物
O 機械工学
P 武器
Q 照明
R 測定; 光学
S 写真;映画
T 計算機;電気通信
U 核技術
V 電気素子
W 発電
X 楽器;音響


  ホーム -> 計算機;電気通信 -> クラリオン株式会社

発明の名称 光ディスクプレーヤ
発行国 日本国特許庁(JP)
公報種別 公開特許公報(A)
公開番号 特開2007−4899(P2007−4899A)
公開日 平成19年1月11日(2007.1.11)
出願番号 特願2005−183746(P2005−183746)
出願日 平成17年6月23日(2005.6.23)
代理人 【識別番号】100083954
【弁理士】
【氏名又は名称】青木 輝夫
発明者 山田 歳充
要約 課題
ディスク表面の汚れやキズの外乱的影響で最適なゲインの設定変更ができない。

解決手段
光ディスク11を一定の線速度で回転させるスピンドルモータ12と、光ピックアップ13で得たデータ信号に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部22と、トラッキングエラー信号の振幅値を測定する振幅値測定部31と、振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部37とを有する光ディスクプレーヤ1であって、光ディスクの回転周期を算出する回転周期算出部33と、振幅値測定回数を設定する測定回数設定部39と、回転周期と測定回数とに基づき、振幅値測定部が光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するように測定タイミングを算出する測定タイミング算出部34と、測定タイミングに基づき、振幅値測定部の測定動作を実行する測定タイミング監視部35とを有するようにした。
特許請求の範囲
【請求項1】
光ディスクを一定の線速度で回転させるスピンドルモータと、この光ディスクに対して光ビームを照射することで、その光ディスクの反射光からデータ信号を得る光ピックアップと、この光ピックアップからのデータ信号に基づいて誤差信号を生成する誤差信号生成部と、この誤差信号生成部にて生成した誤差信号に基づいて、前記光ピックアップを駆動制御するサーボ電圧を生成するサーボ部と、前記誤差信号の振幅値を測定する振幅値測定部と、前記振幅値測定部にて測定された振幅値及び目標値に基づき、最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部と、この最適ゲイン値算出部にて算出した最適ゲイン値に、前記誤差信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部とを有する光ディスクプレーヤであって、
前記光ディスクの回転周期を算出する回転周期算出部と、
前記振幅値測定部の振幅値測定回数を設定する測定回数設定部と、
前記回転周期算出部にて算出した回転周期と前記測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、前記振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で前記誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出する測定タイミング算出部と、
この測定タイミング算出部にて算出した測定タイミングに基づき、前記振幅値測定部の測定動作を実行させる測定タイミング監視部とを有することを特徴とする光ディスクプレーヤ。
【請求項2】
前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の平均値を算出する平均値算出部を有し、
前記最適ゲイン値算出部は、
前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出することを特徴とする請求項1記載の光ディスクプレーヤ。
【請求項3】
前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値を選択する振幅値選択部を有し、
前記最適ゲイン値算出部は、
前記振幅値選択部にて選択した振幅値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出することを特徴とする請求項1記載の光ディスクプレーヤ。
【請求項4】
前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値及び最小の振幅値以外の振幅値で平均値を算出する平均値算出部を有し、
前記最適ゲイン値算出部は、
前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出することを特徴とする請求項1記載の光ディスクプレーヤ。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、複数種の光ディスク、例えば再生専用ディスク(以下、単にCD−DAディスクと称する)や記録再生用ディスク(以下、単にCD−RWディスクと称する)等を再生可能とする光ディスクプレーヤに関する。
【背景技術】
【0002】
従来、このような光ディスクプレーヤとしては、光ディスクからデータ信号を得る光ピックアップと、データ信号に基づいて、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等の誤差信号を生成する誤差信号生成部と、この誤差信号に基づいて、光ピックアップを駆動制御するサーボ電圧を生成するサーボプロセッサ部とを有する光ディスクプレーヤであって、光ディスク挿入時又は光ディスク再生動作開始時に、誤差信号の振幅値を測定する振幅値測定部と、予め最適な振幅値を最適振幅値として記憶した最適振幅値記憶部と、振幅値測定部にて測定された振幅値と最適振幅値記憶部に記憶中の最適振幅値とに基づいて、最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部と、最適ゲイン値算出部にて算出した最適ゲイン値に、誤差信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部とを有するようにしたものが本出願人から提案されている(例えば特許文献1参照)。
【0003】
このような特許文献1によれば、光ディスク挿入時又は光ディスク再生動作開始時に測定した誤差信号の振幅値と最適振幅値とに基づいて最適ゲイン値を算出し、この最適ゲイン値に、前記誤差信号の振幅値のゲインを設定変更するようにしたので、個々の製品のバラツキ等に対応したゲイン出力を設定することで、信号精度のバラツキをなくして、ひいてはプレイアビリティの安定を図ることができる。
【特許文献1】特開2003−281750号公報(要約書及び図2参照)
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、このような特許文献1の光ディスクプレーヤによれば、振幅値測定部にて誤差信号の振幅値を測定し、この測定した誤差信号の振幅値と最適振幅値とに基づいて最適ゲイン値を算出し、この最適ゲイン値に、前記誤差信号の振幅値のゲインを設定変更するようにしたが、例えば光ディスク表面にキズや汚れがある箇所で振幅値測定部の測定動作が実施された場合には、このキズや汚れのために測定結果である振幅値のレベルが小さくなるため、この振幅値と最適振幅値とに基づいて最適ゲイン値を算出した場合には、最適ゲイン値が非常に大きくなってしまうため、その結果、光ディスクプレーヤのサーボ性能が変化してプレイアビリティが悪化してしまう虞がある。
【0005】
本発明は上記点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、振幅値の測定精度を大幅に向上させることで、ディスクのキズや汚れ等の外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインを設定変更することができ、その結果、プレイアビリティを良好にすることができる光ディスクプレーヤを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記のように構成された本発明の光ディスクプレーヤは、光ディスクを一定の線速度で回転させるスピンドルモータと、この光ディスクに対して光ビームを照射することで、その光ディスクの反射光からデータ信号を得る光ピックアップと、この光ピックアップからのデータ信号に基づいて誤差信号を生成する誤差信号生成部と、この誤差信号生成部にて生成した誤差信号に基づいて、前記光ピックアップを駆動制御するサーボ電圧を生成するサーボ部と、前記誤差信号の振幅値を測定する振幅値測定部と、前記振幅値測定部にて測定された振幅値及び目標値に基づき、最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部と、この最適ゲイン値算出部にて算出した最適ゲイン値に、前記誤差信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部とを有する光ディスクプレーヤであって、前記光ディスクの回転周期を算出する回転周期算出部と、前記振幅値測定部の振幅値測定回数を設定する測定回数設定部と、前記回転周期算出部にて算出した回転周期と前記測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、前記振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で前記誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出する測定タイミング算出部と、この測定タイミング算出部にて算出した測定タイミングに基づき、前記振幅値測定部の測定動作を実行させる測定タイミング監視部とを有するようにした。
【0007】
本発明の光ディスクプレーヤは、前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の平均値を算出する平均値算出部を有し、前記最適ゲイン値算出部は、前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出するようにした。
【0008】
本発明の光ディスクプレーヤは、前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値を選択する振幅値選択部を有し、前記最適ゲイン値算出部は、前記振幅値選択部にて選択した振幅値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出するようにした。
【0009】
本発明の光ディスクプレーヤは、前記振幅値測定部にて測定した複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値及び最小の振幅値以外の振幅値で平均値を算出する平均値算出部を有し、前記最適ゲイン値算出部は、前記平均値算出部にて算出した振幅値の平均値及び目標値に基づき、前記最適ゲイン値を算出するようにした。
【発明の効果】
【0010】
上記のように構成された本発明の光ディスクプレーヤによれば、前記回転周期算出部にて算出した回転周期と前記測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、前記振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で前記誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出し、この算出した測定タイミングに基づき、前記光ディスクの前記誤差信号の振幅値を測定するようにしたので、従来のように測定箇所が一箇所ではなく、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するために振幅値の測定精度を大幅に向上させることができ、その結果、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、さらには、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【0011】
また、本発明の光ディスクプレーヤによれば、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定し、これら複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この振幅値の平均値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【0012】
また、本発明の光ディスクプレーヤによれば、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定し、これら複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値を選択し、この最大の振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【0013】
また、本発明の光ディスクプレーヤによれば、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定し、これら複数箇所の振幅値の内、最大の振幅値及び最小の振幅値以外の振幅値の平均値を算出し、この振幅値の平均値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0014】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を示す光ディスクプレーヤについて説明する。図1は本実施の形態を示す光ディスクプレーヤ内部の概略構成を示すブロック図である。
【0015】
図1に示す光ディスクプレーヤ1は、光ディスク11を回転させるスピンドルモータ12と、光ディスク11に対して光ビームを照射することで、その光ディスク11の反射光からデータ信号を得る光ピックアップ13と、光ピックアップ13から得られるデータ信号を増幅する再生信号としてRF出力するRFアンプ部14と、このRFアンプ部14からの再生信号にオーディオ信号にオーディオ信号処理を施す信号処理部15と、この信号処理部15にてオーディオ信号処理を施したオーディオデータをアナログ変換するD/A変換部16と、光ピックアップ13をフォーカス方向に移動調整するフォーカスサーボ17と、光ピックアップ13をトラッキング方向に移動調整するトラッキングサーボ18と、スピンドルモータ12の回転速度を調整するスピンドルサーボ19と、これらフォーカスサーボ17、トラッキングサーボ18及びスピンドルサーボ19を制御するサーボプロセッサ部20と、光ピックアップ13から得られるデータ信号に基づいて、光ピックアップ13内にある対物レンズの光軸方向のズレ量を示すフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部21と、光ピックアップ13から得られるデータ信号に基づいて、対物レンズの径方向のズレ量を示すトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部22と、様々なコマンド等を入力する操作部23と、この光ディスクプレーヤ1全体を制御するシステムコントロール部24とを有している。
【0016】
図2は本実施の形態に関わるシステムコントロール部24内の概略構成を示すブロック図である。
【0017】
図2に示すシステムコントロール部24は、トラッキングエラー信号生成部22にて生成したトラッキングエラー信号の振幅値を測定する振幅値測定部31と、スピンドルモータ12のディスク回転速度を検出する回転速度検出部32と、この回転速度検出部32にて検出したディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出する回転周期算出部33と、ディスク回転周期での振幅値測定部31の測定回数を設定する測定回数設定部39と、回転周期算出部33にて算出したディスク回転周期及び測定回数設定部39にて設定した測定回数に基づき、振幅値測定部31の測定タイミングを算出する測定タイミング算出部34と、この測定タイミング算出部34にて算出した測定タイミングに基づき、振幅値測定部31の測定動作を監視制御する測定タイミング監視部35と、振幅値測定部31にて測定した複数箇所の振幅値からトラッキングエラー用の振幅値を決定する振幅値決定部36と、この振幅値決定部36にて決定したトラッキングエラー用の振幅値及び目標値に基づき、トラッキングエラー用の最適ゲイン値を算出する最適ゲイン値算出部37と、この最適ゲイン値算出部37にて算出した最適ゲイン値に、トラッキングエラー信号のゲインを設定変更する最適ゲイン値設定部38とを有している。
【0018】
回転周期算出部33は、回転速度検出部32にて検出したディスク回転速度に基づき、光ディスクの回転周期を算出するものである。
【0019】
測定回数設定部39は、光ディスク11のディスク回転周期での振幅値測定部31による測定回数を設定するものである。尚、測定回数は、操作部23の入力操作で任意に設定可能である。
【0020】
測定タイミング算出部34は、ディスク回転周期及び測定回数に基づき、振幅値測定部31の測定タイミングを算出するものであり、例えばディスク回転周期を200m秒とし、測定回数を4回と設定した場合、200m秒÷4回で50m秒の測定タイミングを算出することになる。
【0021】
測定タイミング監視部35は、振幅値測定部31にて50m秒毎に1回の振幅値測定動作を実行すると、ディスク回転周期で4個の振幅値を取得することができ、しかも、これら4個の振幅値は必ず光ディスク11上の異なった箇所で測定されることになる。
【0022】
振幅値決定部36は、これら4個の振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用の振幅値として決定するものである。
【0023】
最適ゲイン値算出部37は、振幅値決定部36にて決定されたトラッキングエラー用の振幅値及び目標値に基づき、同平均値が目標値となるように最適ゲイン値を算出するものである。尚、目標値は、正常時の最適な振幅値に相当するものである。
【0024】
尚、請求項記載の誤差信号生成部はトラッキングエラー信号生成部22、サーボ部はトラッキングサーボ18及びサーボプロセッサ部20、平均値算出部及び振幅値選択部は振幅値決定部36に相当するものである。
【0025】
次に本実施の形態を示す光ディスクプレーヤ1の動作について説明する。図3は本実施の形態を示す光ディスクプレーヤ1のトラッキングエラー用ゲイン設定処理に関わるシステムコントロール部24の処理動作を示すフローチャートである。
【0026】
図3に示すトラッキングエラー用ゲイン設定処理とは、光ディスク11の異なる複数箇所の振幅値を順次測定し、これら複数箇所の振幅値の平均値をトラッキングエラー用の振幅値に決定し、このトラッキングエラー用の振幅値及び目標値に基づき、最適ゲイン値を算出し、この最適ゲイン値に、トラッキングエラー信号のゲインを設定変更する処理である。
【0027】
図3においてシステムコントロール部24は、スピンドルモータ12を駆動制御することで光ディスク11の回転駆動を開始し(ステップS11)、フォーカスサーボ17をONし(ステップS12)、回転速度検出部32を通じてディスク回転速度を検出しながら、同ディスク回転速度を一定速度に安定させるべくスピンドルサーボ19内のCLVをONする(ステップS13)。
【0028】
システムコントロール部24の回転周期算出部33は、ディスク回転速度が一定速度に安定すると、ディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出する(ステップS14)。
【0029】
さらにシステムコントロール部24の測定タイミング監視部35は、測定回数設定部23Aにて測定回数nを設定する(ステップS15)。この際、測定タイミング算出部34は、ディスク回転周期及び設定測定回数に基づき、ディスク回転周期内の振幅値測定部31の1回分の測定動作を開始する測定タイミングを監視するためのタイマ時間(ディスク回転周期÷設定測定回数)を算出するものとする。例えばディスク回転周期を200m秒、測定回数を4回とした場合、タイマ時間は200m秒÷4回で50m秒となる。
【0030】
まず、測定タイミング監視部35は、振幅値測定部31にて振幅値の測定動作を実行することで同測定箇所の振幅値を得る(ステップS16)。
【0031】
測定タイミング監視部35は、現在の測定回数nから−1デクリメントすることで残り測定回数n−1を算出し(ステップS17)、残り測定回数が“0”であるか否かを判定する(ステップS18)。
【0032】
測定タイミング監視部35は、残り測定回数が“0”でないと判定されると、次の振幅値測定部31の測定動作の開始タイミングを監視すべく、測定タイミング算出部34にて算出した測定タイミングを監視するためのタイマ時間(ディスク回転周期÷設定測定回数)の計時動作を開始する(ステップS19)。
【0033】
測定タイミング監視部35は、測定タイミングを監視するためのタイマ時間の計時動作を開始すると、タイマ時間がタイムアップしたか否かを判定する(ステップS20)。測定タイミング監視部35は、タイマ時間がタイムアップしたと判定されると、振幅値測定部31にて振幅値の測定動作を実行することで同測定箇所の振幅値を得て(ステップS21)、現在の測定回数から−1デクリメントすべく、ステップS17に移行する。
【0034】
そして、測定タイミング監視部35は、ステップS18にて残り測定回数が“0”であると判定されると、ディスク回転周期での全ての測定箇所に関わる振幅値の測定動作が完了したものと判断する。つまり、ディスク回転周期を200m秒、測定回数を4回とした場合、振幅値測定部31にて50m秒毎に振幅値を測定することで、光ディスク11表面の異なる4箇所の振幅値が得られたことになる。
【0035】
振幅値決定部36は、測定タイミング監視部35にてディスク回転周期の複数箇所の振幅値の測定動作が完了すると、これら複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この算出した平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定する(ステップS22)。
【0036】
最適ゲイン値設定部38は、最適ゲイン値算出部37を通じて、振幅値決定部36にて決定したトラッキングエラー用振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出し、同最適ゲイン値に、トラッキングエラー信号のゲインを設定変更することで(ステップS23)、この処理動作を終了する。
【0037】
本実施の形態によれば、回転周期算出部33にて算出したディスク回転周期と測定回数設定部39にて設定した測定回数とに基づき、振幅値測定部31が光ディスク11の異なる複数箇所でトラッキングエラー信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出し、この算出した測定タイミングに基づき、光ディスク11のトラッキングエラー信号の振幅値を振幅値測定部31に測定させるようにしたので、従来のように測定箇所が一箇所ではなく、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するために振幅値の測定精度を大幅に向上させることができ、その結果、光ディスク11表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、さらには、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【0038】
本実施の形態によれば、振幅値測定部31にて複数箇所の振幅値を測定し、振幅値決定部36にて複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定し、このトラッキングエラー用振幅値及び目標値に基づき最適ゲイン値を算出するようにしたので、光ディスク11表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、その結果、良好なプレイアビリティを提供することができる。
【0039】
尚、上記実施の形態においては、例えばディスク回転周期を200m秒、測定回数を4回として、200m秒÷4回で50m秒毎に振幅値測定部31の測定動作を合計4回実行することで異なる4箇所の振幅値を取得できることを説明したが、例えば測定回数を10回とした場合、200m秒÷10回で20m秒毎に振幅値測定部31の測定動作を10回実行することで、異なる10箇所の振幅値を取得することができることは言うまでもない。
【0040】
また、上記実施の形態においては、振幅値決定部36にて複数箇所の振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定するようにしたが、例えば複数箇所の振幅値の内、最大振幅値及び最小振幅値を除いた振幅値の平均値を算出し、この平均値をトラッキングエラー用振幅値として決定するようにしても良く、また、複数箇所の振幅値の内、最大振幅値を選択し、この最大振幅値をトラッキングエラー用振幅値として決定するようにしても良く、同様の効果が得られることは言うまでもない。
【0041】
また、上記実施の形態においては、回転周期算出部33にてディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出するようにしたが、スピンドルモータ12からディスク回転周期を直接取得するようにしても良いことは言うまでもない。
【0042】
また、上記実施の形態においては、回転周期算出部33にてディスク回転速度に基づきディスク回転周期を算出するようにしたが、光ピックアップ11のディスク再生位置及びディスク再生時間、すなわち、例えばTOC情報から得られる再生位置Aから再生位置Bまでの位置関係及び、再生位置Aから再生位置Bまでのディスク再生時間に基づき、ディスク回転周期を算出するようにしても良く、また、TOC情報が得られない場合、ディスク最内周でディスク再生を開始しているため、同最内周でのディスク回転周期を算出するようにしても良く、いずれにしても同様の効果が得られることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【0043】
本発明の光ディスクプレーヤによれば、回転周期算出部にて算出した光ディスクの回転周期と測定回数設定部にて設定した振幅値測定回数とに基づき、振幅値測定部が前記光ディスクの異なる複数箇所で誤差信号の振幅値を測定するように測定タイミングを算出し、この算出した測定タイミングに基づき、前記振幅値測定部の測定動作を実行するようにしたので、従来のように測定箇所が一箇所ではなく、光ディスクの異なる複数箇所で振幅値を測定するために振幅値の測定精度を大幅に向上させることができ、その結果、光ディスク表面のキズや汚れによる外乱の影響を最小限に抑制しながら、最適なゲインに設定変更することができ、さらには、良好なプレイアビリティを提供することができるため、例えば車載用光ディスクプレーヤ等に有用である。
【図面の簡単な説明】
【0044】
【図1】本発明の実施の形態を示す光ディスクプレーヤ内部の概略構成を示すブロック図である。
【図2】本実施の形態を示す光ディスクプレーヤのシステムコントロール部内部の概略構成を示すブロック図である。
【図3】本実施の形態を示す光ディスクプレーヤのトラッキングエラー用ゲイン設定処理に関わるシステムコントロールの処理動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【0045】
1 光ディスクプレーヤ
11 光ディスク
12 スピンドルモータ
13 光ピックアップ
18 トラッキングサーボ(サーボ部)
20 サーボプロセッサ部(サーボ部)
22 トラッキングエラー信号生成部(誤差信号生成部)
31 振幅値測定部
33 回転周期算出部
34 測定タイミング算出部
35 測定タイミング監視部
36 振幅値決定部(平均値算出部、振幅値選択部)
37 最適ゲイン値算出部
38 最適ゲイン値設定部




 

 


     NEWS
会社検索順位 特許の出願数の順位が発表

URL変更
平成6年
平成7年
平成8年
平成9年
平成10年
平成11年
平成12年
平成13年


 
   お問い合わせ info@patentjp.com patentjp.com   Copyright 2007-2013