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日本電子株式会社 - 特許情報
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番号 発明の名称
1 走査形プローブ顕微鏡
2 ESR用空胴共振器
3 ESR用ファブリ・ペロー共振器およびESR装置
4 NMR装置
5 ディジタル直交ロックイン検出方法及び装置
6 走査形プローブ顕微鏡
7 走査形プローブ顕微鏡
8 NMR装置
9 走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡
10 質量分析方法及び装置
11 多重共鳴用NMRプローブ
12 電子スピン濃度の測定方法
13 走査型プローブ顕微鏡及びその動作方法
14 NMRプローブ
15 NMR装置
16 XYステージ
17 イオンミリング装置
18 X線分析装置
19 マニピュレータを備える荷電粒子ビーム装置
20 試料冷却装置
21 磁気共鳴力顕微鏡
22 静電容量式変位センサー
23 NMR装置
24 ESR装置
25 NMRプローブおよびNMR装置
26 パルスフーリエ変換電子スピン共鳴装置
27 NMR装置及びその調整方法
28 NMR装置
29 粒子解析方法及び装置
30 微動装置及び走査形プローブ顕微鏡
31 NMR測定条件の最適化方法
32 NMR用複合型円筒形コイル
33 試料分析装置における定量分析方法
34 トンネルスペクトロスコピー装置
35 測定データ管理方法、測定データ構造、スペクトル再生方法及び表面分析装置
36 NMR装置用自動試料交換装置
37 電子スピン共鳴装置のマイクロ波移相器
38 温度調節装置
39 走査プローブ顕微鏡
40 電子分光装置
41 ステージ移動機構
42 試料作製装置
43 試料作製装置及び試料作成方法
44 スペクトルのピーク位置判定方法および分析装置
45 荷電粒子ビーム検査方法および装置
46 イオンビームを用いる断面試料作製方法
47 表面分析装置
48 大気圧イオン化方法及び試料保持装置

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