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番号 発明の名称
1 半導体装置及びそのテスト方法
2 論理回路の論理推定方法
3 異常検出システムおよび異常検出方法
4 半導体装置
5 秤量装置
6 ノイズ測定用半導体装置
7 半導体装置及びテスト方法
8 半導体集積回路及びテスト方法
9 工程フローチェック装置、方法およびプログラム
10 工程フローチェック装置
11 故障検出シミュレーションシステム、故障検出シミュレーション方法及びプログラム
12 階調電圧発生回路
13 半導体集積回路及びその検査装置
14 半導体装置及びそのテスト方法
15 表面電位計の校正用固定治具および校正方法
16 電流検出回路
17 非破壊検査装置および非破壊検査方法
18 半導体装置の検査方法および装置
19 電源IC
20 基準電圧生成回路
21 定電圧電源回路
22 プローブおよびこれを備えた検査装置
23 電池電圧監視装置
24 電圧−パルス変換回路及び充電制御システム
25 通信装置
26 ESD試験装置
27 電源回路
28 検査装置及び検査方法
29 検査システム、検査方法および配線長調整方法
30 テストパタン生成システム、及びテストパタン生成方法
31 バーンインテスト回路、方法、装置、及びパターン生成プログラム
32 半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム
33 スキャンフリップフロップ回路、及び、半導体集積回路装置
34 半導体検査装置
35 ダイオードの非直線性を補償した基準電圧回路
36 非線形カレントミラー回路で駆動する基準電圧回路
37 半導体集積回路
38 半導体集積回路及びそのテスト方法
39 半導体装置及びそのテスト回路の追加方法
40 電池電圧監視装置
41 半導体テスター用テストボード
42 半導体集積回路装置
43 半導体集積回路装置、及び、その制御方法
44 マルチチップ装置
45 半導体集積回路装置とそのテスト方法
46 半導体試験装置の保守システムおよび保守方法
47 ピーク検波回路
48 半導体装置及びそのテスト方法
49 半導体装置の故障検出装置及び故障検出方法

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