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番号 発明の名称
1 CMR(共通モード雑音排除)概念による色素線量計の感度改善
2 原子間力顕微鏡プローブ
3 歪センサおよび歪センサの製造方法
4 薄膜状試料の測定方法
5 ヒ素・リン・シリカの高感度吸光検出法
6 ドライ式超音波映像方法とそのための装置
7 超伝導液面計
8 カラーフィルタ装置及びその製造方法
9 光生成装置および該装置を備えたテラヘルツ光生成装置
10 光生成装置および該装置を備えたテラヘルツ光生成装置
11 ガスケット型オリフィス及びこれを用いた圧力式流量制御装置
12 誘電率周期構造の遮断周波数帯における減衰量の計算方法
13 表面プラズモン共鳴角スペクトル測定装置
14 脈理を有する材料の漏洩弾性表面波速度と化学組成比および線膨張係数との関係を求める方法、およびその関係を使ったTiO2−SiO2ガラスのTiO2濃度測定方法および線膨張係数測定方法
15 遠隔誘導型交流電位を用いた非破壊検査装置
16 位置決め装置
17 SWNT可飽和吸収光学材料の作製方法、パルスレーザー装置、全光型光スイッチ装置
18 位置解析方法及び位置解析装置
19 偏光もつれ光子対発生デバイス
20 温度計測方法
21 アミロイドβとアミロイドβ結合蛋白質との相互作用を阻害する物質をスクリーニングする方法
22 アミロイド蓄積性疾患の新規診断用装置およびその操作方法
23 光学装置
24 干渉縞式膜厚計及び膜厚計測方法
25 太陽光スペクトル追尾装置
26 高精度LC共振型磁気マーカの位置、方向および等価的磁気モーメントの検出システム
27 癌罹病検定用データの収集方法及び該方法に使用される癌罹病検定用装置
28 プロジェクションスクリーン用プリズムアレイの形状測定方法
29 固体粒子供給装置および固体粒子濃度調整方法とその製造方法
30 イオン電流検出装置及びイオン電流検出方法
31 酸素消光性塗料及び酸素濃度計測装置
32 3軸角度センサ
33 波形の位置合わせ方法
34 高周波キャリア型薄膜磁界センサ
35 電気化学的抗原検出法とそのための装置並びに検出チップ
36 立体表示ディスプレイ

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