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番号 発明の名称
1 半導体試験装置
2 半導体試験装置
3 試験装置、及び試験方法
4 検査装置用ソケット
5 半導体試験装置
6 試験装置、制御方法、および制御プログラム
7 IC試験システム
8 周波数成分測定装置
9 タイミング発生器及び半導体試験装置
10 タイミング発生器及び半導体試験装置
11 測定装置、及び試験装置
12 半導体試験装置、パフォーマンスボードおよびインターフェースプレート
13 不良検出装置、不良検出方法および電子デバイス
14 半導体試験装置
15 試験装置
16 集積回路をテストする方法および装置
17 試験装置、及びプログラム
18 試験エミュレート装置
19 ブリルアン光生成装置および該装置を備えた測定装置、ブリルアン光生成方法、プログラム、記録媒体
20 電子部品試験装置用のキャリブレーションボード
21 ブリルアン散乱光生成装置、方法、プログラム、記録媒体
22 電子部品試験装置
23 試験装置および試験方法
24 測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体
25 電子ビーム寸法測定装置及び電子ビーム寸法測定方法
26 試験装置
27 パフォーマンスボード、試験装置、試験方法、診断用ボード及び診断方法
28 試験装置およびテストヘッド
29 信号測定装置
30 伝達特性測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体
31 散乱光測定装置
32 波長分散測定装置、方法、プログラム、記録媒体
33 分散測定装置、方法、プログラム、記録媒体
34 サンプリング制御装置、方法、プログラムおよび記録媒体
35 導電性流体検出装置用のフィルタユニット及びそれを用いた導電性流体検出装置
36 接続装置、接続システム、光導波路及び接続方法
37 試験装置及び試験方法
38 試験装置、プログラム、及び記録媒体
39 測定装置及び測定方法
40 ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
41 半導体試験装置及びパフォーマンスボード
42 試験装置、プログラム、及び記録媒体
43 試験装置および試験方法
44 偏光方向変換装置及び偏光方向変換方法
45 偏光方向変換装置及び偏光方向変換方法
46 収容型構造体、測定装置、方法およびプログラム
47 検出器
48 測定用構造体、測定装置、方法およびプログラム
49 歪み測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体
50 歪み測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体
51 診断装置、初期化装置、プログラム、及び記録媒体
52 解析装置および解析方法
53 光特性測定装置、方法、プログラム、記録媒体
54 プローブカード固定装置及びそれを備えた電子部品試験装置
55 補正方法および補正装置
56 汚染防止装置
57 診断装置、プログラム、記録媒体、及び試験装置システム
58 試験装置及び試験方法
59 測定装置、試験装置、及び測定方法
60 試験装置および試験方法
61 測定装置および測定方法
62 コヒーレンス測定装置、及び試験装置
63 試験システム、付加装置および試験方法
64 送風装置及び電子部品試験装置
65 プリント基板の誘電体の比誘電率測定装置およびその測定方法
66 モジュール式試験システムにおけるデータログサポート

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