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番号 発明の名称
1 グロー放電掘削装置及びグロー放電掘削方法
2 試料測定装置
3 ドライビングレコーダ
4 ドライビングレコーダ
5 ドライビングレコーダ
6 ドライビングレコーダ
7 粒子数計測装置
8 細胞数計測装置および細胞数計測用カートリッジ
9 イオン濃度測定用複合電極及びイオン濃度モニター
10 熱型赤外線検出器を用いた放射温度計
11 接液部を有する半導体センサおよびその製造方法
12 アンモニア検知剤、アンモニア検知手段、その製造方法およびこれを用いた分析装置
13 分析装置
14 作用電極及びこれを用いた電気化学測定装置
15 薬液濃度モニタ
16 車両用事故盗難通報装置
17 粒径分布測定装置
18 口腔内の物理/化学量測定センサ、口腔内の物理/化学量測定システム、口腔内の物理/化学量測定方法、および、口腔内の物理/化学量測定センサの製造方法。
19 半導体式薄膜ガスセンサ
20 参照電極、塩橋及びそれらを用いたイオン濃度測定装置
21 熱画像処理装置
22 カーボンナノチューブ分類装置、コンピュータプログラム、及びカーボンナノチューブ分類方法
23 グロー放電掘削装置及びグロー放電掘削方法
24 生体の定量方法および生体の定量装置
25 車両追跡システム
26 欠陥検査装置
27 半導体ガスセンサ
28 赤外線アレイセンサ
29 ダイヤモンド電極及びダイヤモンド電極の表面改質方法
30 試料分析装置及びその試料分析装置に用いられる液体温度調節ユニット
31 作動子駆動装置及びその作動子駆動装置に用いる配線又は配管保持部材
32 試料分析装置
33 放射線モニタ
34 ガス分析装置
35 放射線モニタ
36 試料形成装置及び試料形成方法
37 ネブライザ及び試料液霧化装置
38 電気化学測定装置
39 パネル部材検査装置及びそれに適用されるパネル部材検査用プログラム
40 含有酸素分析装置および含有酸素分析方法
41 残留塩素測定方法及び残留塩素測定装置
42 試料解析方法、及び試料解析装置
43 分析開始時期判断方法及びICP発光分析装置
44 試料中の元素分析装置
45 車両挙動解析システム
46 粒径分布測定装置
47 アスベスト検出方法及びアスベスト検出装置
48 アスベスト検出装置
49 ガス分析装置及び半導体製造装置
50 発光分析装置
51 分析装置用試料気化装置及びICP分析装置
52 微生物検出方法及び微生物検出装置
53 放射温度計
54 ガス分析計及びガス分析方法
55 血液分析装置
56 放射線検出器
57 ガラス電極用洗浄剤、ガラス電極の洗浄方法、及びガラス電極洗浄剤用パッケージ
58 欠陥検査装置及び基板処理システム
59 電極式溶液測定方法および電極式溶液測定装置
60 浮遊粒子状物質測定装置
61 試料溶液滴下洗浄装置および試料溶液滴下洗浄方法
62 浮遊粒子状物質測定装置
63 浮遊粒子状物質測定用フィルタ
64 欠陥検査装置
65 電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置、及び、第1の分析装置と共に用いる第2の分析装置

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