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番号 発明の名称
1 厚み測定機
2 照明装置、測定装置
3 結像型光エンコーダ
4 厚み測定機
5 データ処理装置、およびデータ処理方法、データ処理プログラム
6 位相シフト干渉計
7 測定器
8 測定器
9 表面性状測定装置
10 粗さ標準片及びその製造方法
11 ワーク測定方法
12 ストロボ照明制御システムおよびその方法
13 干渉計測システム
14 干渉計
15 三次元測定装置
16 測定器
17 測定器
18 押込み試験機、圧子軸及び変位測定方法
19 スリット幅調整装置およびこれを備えた顕微鏡レーザリペア装置
20 測定情報送受信装置および測定システム
21 光電式エンコーダ及び受光アレイ素子
22 追尾式レーザ干渉計
23 表面形状測定装置
24 マイクロメータおよびマイクロメータ用指掛部材
25 光電式エンコーダ
26 画像測定装置用パートプログラム生成装置、画像測定装置用パートプログラム生成方法、及び画像測定装置用パートプログラム生成用プログラム
27 エンコーダ出力の内挿方法及び内挿回路
28 デジタル表示式測定器
29 オートコリメータ及びそれを用いた角度測定装置
30 校正用治具、及び画像測定機のオフセット算出方法
31 相対関係測定方法、相対関係測定用治具、及び相対関係測定装置
32 測定器
33 直交座標運動機構の補正係数決定方法および測定データの収集方法
34 変位センサ
35 レンズユニット
36 プローブ観察装置、表面性状測定装置
37 表面性状測定装置
38 変位センサおよび表面性状測定装置
39 測定情報送受信装置および測定システム
40 アブソリュート型リニアエンコーダ
41 プローブ駆動型変位測定装置
42 センサブロック
43 表面形状測定装置、及び表面形状測定方法
44 回折格子キャップ及びその製造方法、光ファイバ読み取りヘッド、並びに回折格子エンコーダ
45 直線ガイド搭載装置
46 変位センサおよび形状測定装置
47 光電式ロータリエンコーダ
48 形状測定機
49 地震災害防止システム
50 圧子軸膨張量推定機構及び材料試験機
51 非接触変位計測装置、並びにそのエッジ検出方法及びエッジ検出プログラム
52 圧子軸及び材料試験機
53 倣いプローブの校正方法
54 光電式エンコーダ
55 振動機械の変位測定装置
56 変位測定装置用スケール
57 振動検出器
58 表面性状測定機
59 接触プローブおよび形状測定装置
60 形状測定装置、形状測定方法及び形状測定プログラム
61 光電式エンコーダ
62 ずれ量推定機構、試料測定装置及び材料試験機
63 変位センサ、形状測定装置
64 アライメントずれ検査装置
65 光電式エンコーダのアライメント角度検査装置
66 表面性状測定機、形状解析プログラムおよび記録媒体
67 光電式エンコーダ
68 パターンのエッジ検出装置
69 表面性状測定装置、表面性状測定方法及び表面性状測定プログラム
70 測定制御回路の制御ゲイン調整方法および測定制御回路
71 ねじ測定方法、ねじ測定用プローブ及びそれを用いたねじ測定装置
72 光電式インクリメンタル型エンコーダ
73 光電式インクリメンタル型エンコーダ
74 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム
75 可変焦点距離定倍率レンズアセンブリを備えた撮像装置、およびこの撮像装置を用いた撮像方法

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