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アジレント・テクノロジーズ・インク - 特許情報
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番号 発明の名称
1 センサ装置およびこれを用いて試験媒体の1つ以上の物理的特性を解明する方法
2 網特性を解析する方法
3 マトリックス・ベース・イオン源のための被写界深度を増大させる画像生成方法、及びその方法を用いた質量分析システム
4 自動回路試験システムを較正するシステム、方法、及びコンピュータプログラム
5 階層的な試験開発ツリーを使用して装置及びそれらの試験セットアップを規定する方法及び装置
6 試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供する方法及び装置
7 マルチモードイオン化源及び分子スクリーニング方法
8 ゲル電気泳動デバイスのためのモジュール式システム
9 ゲル電気泳動デバイスのための磁気ロック機構
10 表示パネルの検査装置、及びそれに用いるインターフェース
11 半導体特性測定装置の制御方法および制御プログラム
12 マイクロ波イメージングのためのシステム及び方法
13 部分応答を時間調整する光反射測定解析
14 標識粒子と相互作用するナノ構造又はナノ粒子を含む基材による、金及び銀ナノ粒子を利用するPOCTデバイスの感度の向上法
15 インピーダンス測定方法およびインピーダンス測定器
16 フレキシブルなインタフェースを有する液体クロマトグラフィーチップ
17 ランダム・ワードのマッピングによる雑音信号の発生
18 周波数誤差を補正するスペクトルアナライザ及びその方法
19 テーパ付き中間ピースを設けたカラム
20 ビーム分配装置
21 調節可能な時間アキュムレータ
22 クロマトグラフ分離における濃縮技術
23 物体を測定するためのシステム及び垂直変位を測定するための方法
24 粒子検出装置及びそれに使用される粒子検出方法
25 デバイス特性測定システム
26 特徴部の位置合わせを行うシステム及び方法
27 高周波小型プローブアセンブリ用クランプテスト装置
28 集積化光電SPRセンサ
29 MALDIサンプルプレート撮像ワークステーション
30 プローブアセンブリおよびこれを利用した装置
31 金属間シールを有する液体クロマトグラフィカラム
32 画素駆動電流測定方法および装置
33 周波数測定方法および周波数測定装置
34 電気信号観測装置
35 プローブ装置
36 改良型の任意波形発生器
37 テストプローブを管理するシステムおよび方法
38 測定装置設定を選択的に配布するシステムおよび方法
39 テストプローブメタデータを便宜的に送信するシステムおよび方法
40 導電性空洞センサ
41 被検装置の分析を行う方法及び計測システム
42 流体の流れを制御するためのシステム及び方法
43 半使い捨て式簡易診断検査システム
44 計測システムから計測誤差を除去するシステム及び方法
45 センサネットワーク中の近隣センサ間における自律的相互作用の為のシステム及び方法
46 カラーセンサ装置
47 インピーダンス制御されたばねコンタクトピン又は先端抵抗器ばねコンタクトピンを有するプローブアセンブリ
48 信号のジッター特性の決定
49 金属被覆誘電体ナノ微粒子による放射の改善方法
50 インテリジェントなSIMの獲得
51 結合したリガンドを有するエバネッセント波センサー
52 光学干渉計
53 全同位体の正確なイオン質量測定値を用いた未知化合物の化学実験式の決定
54 MALDIのためのレーザ集束及びスポット撮像を一体に組み込むための装置
55 異方性音響光学変調器を利用した光ビーム発生システム及び方法
56 異方性音響光学変調器を利用した光ビーム発生システム及び方法
57 プローブシステム
58 キャピラリを介した基準質量の導入装置
59 異なる滞留時間の流体搬送機構を使用するデバイスおよび方法
60 ランダムサンプルタイミング法及びこれを使用するシステム
61 制御ループの適応調整システム及び方法
62 集積化された光検出器及び/又は光源を有するセンサ
63 モノリシック変位測定干渉計
64 計測処理中にメタデータの検証を実施する為のシステム及び方法
65 改良形補間エンコーダ
66 携帯型マイクロ波撮像装置及びこの携帯型マイクロ波撮像装置を使用して対象物をスクリーニングする方法
67 マイクロ波撮像システム及びマイクロ波による撮像方法
68 干渉計
69 減衰した刺激を使用する非線形モデル較正
70 埋め込みウェブサーバを有する質量分析計
71 リトロー型干渉計
72 表示パネルの製造方法、検査方法および検査装置
73 高性能液体クロマトグラフィにおける成分分別収集
74 音響的な探索及び強化
75 FETの特性を測定する方法および装置
76 リジェネレータプローブ
77 液晶表示パネルの製造方法、検査方法および検査装置
78 タイル様周期化金属膜センサ
79 化学アレイの製造方法
80 トリガ分配装置
81 試料の広がりを低減した流体分離装置および方法
82 アクティブマトリックスTFTアレイの測定方法
83 電流電圧変換器およびインピーダンス測定装置
84 タイミング調整回路
85 半導体デバイス特性測定装置
86 イオンモニタリング期間の動的調整方法およびシステム
87 複数構成の積層可能な装置モジュール
88 液晶表示パネルの製造方法、検査方法および検査装置
89 内部表面及び外部表面上に隣接導電性層を有する流体デバイス

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