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番号 発明の名称
1 走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置
2 回路パターン検査装置
3 欠陥データ処理方法、およびデータの処理装置
4 アミノ酸分析法および分析装置
5 基板検査装置及び基板検査方法
6 半導体の欠陥検査装置及びその方法
7 自動分析装置
8 スペーサインク散布方法、液晶パネルの製造方法及び液晶パネル
9 スペーサインク散布装置及び散布方法
10 基板のスペーサ分散方法、並びに液晶パネルの製造方法及び液晶パネル
11 欠陥検査方法及び外観検査装置
12 自動分析装置
13 化学分析装置
14 欠陥検査装置およびその方法
15 液体クロマトグラフ装置
16 液体クロマトグラフ装置
17 キャピラリー電気泳動装置
18 タンパク質分析方法及びタンパク質分析キット
19 自動分析装置
20 液体クロマトグラフ分析方法,液体クロマトグラフ装置、及び分析用プログラム
21 液体クロマトグラフ装置
22 自動分析装置
23 自動分析装置
24 クロマトグラフデータ処理装置
25 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
26 半導体デバイスの欠陥レビュー方法及びその装置
27 分析装置
28 プラズマ処理装置の表面異物検出装置および検出方法
29 自動分析装置
30 検体分注処理装置
31 質量分析システム
32 化学分析装置及びそれに使用する試薬装置
33 半導体デバイスの欠陥検査方法及びその装置
34 液体分注装置
35 走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法
36 液晶表示セルの製造方法及び液晶表示セル
37 写像投影型電子線式検査装置及びその方法
38 キャピラリアレイ及び電気泳動装置
39 液体クロマトグラフ装置
40 分光光度計
41 電気泳動装置
42 液晶モジュールの位置ずれ検出方法
43 自動分析装置
44 検査システム
45 自動開栓装置
46 観察/検査作業支援システム及び観察/検査条件設定方法
47 欠陥観察方法及びその装置
48 欠陥検査方法及びこれを用いた装置
49 自動分析装置
50 液体クロマトグラフ分析方法、及び液体クロマトグラフ装置
51 積分型データ演算法におけるチェック機能を備えたデータ処理方法
52 微小突起物の高さ測定装置及び高さ測定方法
53 金属製プローブの使用方法及び分析装置
54 ウェハ欠陥検査方法および装置
55 電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡システムおよび電子顕微鏡の制御方法
56 自動分析装置
57 パターン欠陥検査装置
58 間隔測定方法及び間隔測定装置
59 荷電粒子ビーム装置
60 化学マイクロラボシステム
61 試料分析前処理方法、試料分析前処理用pH指示薬及び試料分析前処理用キット
62 キャピラリアレイ
63 基板検査装置及び基板検査方法
64 欠陥検査装置
65 化学分析装置
66 試料解析方法及び試料加工装置
67 磁気検出コイルおよび磁場計測装置
68 電子線式寸法計測装置及びそれを用いた寸法計測方法
69 タンデム質量分析システム
70 パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム
71 液体クロマトグラフ装置
72 基板検査装置及び基板検査方法
73 表面欠陥検査装置
74 高速液体クロマトグラフ用カラム
75 送液ポンプ
76 生化学分析装置
77 危険物探知装置及び危険物探知方法
78 測長校正用標準部材及びその作製方法及びこれを用いた校正方法及び装置
79 集束イオンビーム加工方法及び荷電粒子ビーム装置
80 半導体パターン形状評価装置および形状評価方法
81 光学式検査装置及びその方法
82 キャピラリ電気泳動装置
83 外観検査装置
84 分析方法
85 自動分析装置
86 異物検査装置及び異物検査方法
87 微小試料移送装置及び方法
88 光学フィルム貼付け装置、光学フィルム貼付け方法、及び表示用パネルの製造方法
89 化学分析装置
90 化学分析前処理装置
91 自動分析装置
92 自動分析装置用反応セルとその製造方法、その反応セルを搭載した自動分析装置、及び分析方法
93 異物検査方法および装置
94 自動分析装置
95 荷電粒子線装置及びそれを用いた画像取得方法
96 試料表面形状検査装置及び試料表面形状検査方法
97 欠陥検査方法
98 欠陥検査装置およびその方法
99 液晶表示セルの透明基板へのスペーサ散布方法及び装置並びに液晶表示セル
100 自動分析装置

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