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株式会社島津製作所 - 特許情報
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番号 発明の名称
1 有害ガス監視装置
2 ガスクロマトグラフ質量分析装置
3 船体磁気測定システム
4 PET装置
5 蛍光X線分析装置
6 光検出器
7 光学的計測装置
8 発光分光分析方法及び発光分光分析装置
9 周期的分極反転領域を持つ基板の製造方法
10 におい測定方法
11 フレーム式原子吸光分光光度計
12 機器分析用データ処理装置
13 流体圧サーボ式材料試験機
14 ガスクロマトグラフ
15 焦電センサ
16 材料試験機
17 X線分析装置
18 レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置
19 試料恒温装置
20 耐フッ酸性保護膜及び光学素子
21 分析システム
22 焦電センサ
23 キャピラリー電気泳動方法
24 分析装置および分析処理方法
25 水質分析計
26 ガスクロマトグラフ装置
27 粒度分布測定装置
28 粒度分布測定装置
29 材料試験機
30 シリンジポンプ及びそれを用いたTOC測定装置
31 ダブルビーム型分光光度計
32 ポジトロンCT装置の3次元画像再構成処理方法、及び、その装置
33 ガスクロマトグラフ
34 全有機炭素計
35 アレイ検査装置
36 回折格子
37 材料試験機
38 粒子測定装置
39 光学的計測装置
40 光学素子の保持機構
41 ガスクロマトグラフ分析方法およびデータベース
42 材料試験機
43 X線撮影装置
44 オートサンプラ
45 X線検査装置
46 試料冷却装置
47 磁気測定システム
48 分光光度計
49 ICP発光分析装置
50 マイクロデバイス用電極の製造方法およびマイクロデバイス用電極
51 X線検査装置
52 材料試験機の制御装置
53 放射線検出器およびその製造方法
54 分光光度計
55 ICP発光分光分析方法及びICP発光分光分析装置
56 ガスセンサ及びガス測定装置、並びにガス測定装置の製造方法
57 オートサンプラ
58 液体クロマトグラフ分析装置及び液体クロマトグラフ分析方法
59 顕微分光分析装置
60 水質分析計
61 ポジトロンCT装置
62 水質分析計
63 X線検査装置
64 TVOC計
65 分光光度計
66 示差屈折率検出器及びその調整方法
67 ICP分析装置
68 電磁力平衡式電子天びん
69 放射線検出器
70 TVOC測定装置
71 赤外線ガス分析計
72 X線検査装置
73 X線検査装置
74 X線検査装置
75 X線検査装置
76 X線検査装置
77 キャピラリ流路における電気泳動方法及びマイクロチップ処理装置
78 マイクロチップへの分離バッファ液充填装置とそれを備えたマイクロチップ処理装置
79 マイクロチップ処理装置
80 X線透視検査装置
81 X線検査装置
82 X線検査装置
83 アスベストの測定方法
84 ガスクロマトグラフ用試料注入装置
85 マイクロ反応装置
86 X線検査装置
87 干渉計
88 分析方法、及び分析装置
89 X線検査装置
90 2次元放射線検出器、及び、該2次元放射線検出器を備えた放射線撮像装置
91 コンピュータ断層撮影方法
92 X線検査装置
93 X線検査装置
94 コンピュータ断層撮影装置
95 X線回折装置
96 流路切換バルブ及びそれを用いた高速液体クロマトグラフ
97 質量分析装置
98 分析グラフ表示装置
99 イオン測定器
100 X線検査装置

[1][2][3]
 

 


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