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番号 発明の名称
1 渦流量計
2 電圧印加装置
3 波長モニタ
4 波長モニタ
5 ガス検出装置及び赤外線ガス分析計
6 残留塩素計
7 周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器
8 光波形整形素子
9 パラメータ設定装置、パラメータ設定方法およびプログラム
10 モニタリングシステム、およびモニタリング装置
11 SQUIDセンサ装置
12 差圧伝送器
13 化学反応用カートリッジおよび情報管理装置
14 標本化装置および標本化方法
15 赤外線ガス分析計
16 ICテスタ検査装置とICテスタ検査方法
17 光AND素子
18 フィールド機器システム
19 フローセンサ
20 診断装置及び診断方法
21 電力監視システム
22 濃縮イオンクロマトグラフ測定方法および濃縮イオンクロマトグラフ測定装置
23 画像検査装置
24 ジッタ測定装置
25 測定器のリモート操作システム
26 振動式センサ
27 導圧管の詰まり診断機構付き差圧測定装置
28 ペーパーレス記録計
29 電磁流量計
30 レーダー画像表示方法およびレーダー画像表示装置
31 質量流量計
32 画質検査装置
33 半導体試験装置
34 ファイバ光学プレートおよびその製造方法
35 プラント情報管理システム、プラント情報管理方法及びプログラム
36 2線式計器
37 半導体梁を有する構造体およびその製造方法並びにその構造体を用いたトランスデューサ
38 波形検索方法およびそれを用いた波形測定装置
39 赤外線ガス分析計
40 プログラムのモニタ装置
41 プログラムの照合装置
42 位置決め制御ツール
43 ラダープログラム開発支援装置
44 プラント監視システム
45 半導体検査装置
46 半導体検査装置
47 波形測定装置
48 断線検出装置
49 サポートツール
50 流量計及び流量計の製造方法
51 ピークホールド回路
52 フィールド機器
53 フィールド機器及び流量計
54 ハンドラー
55 光源装置
56 ヘッド・マウント・ディスプレイ装置
57 診断支援装置
58 振動式圧力センサ及び振動式圧力センサの製造方法
59 半導体集積回路及びそのテストシステム
60 半導体試験装置
61 微小流路内における付着物の検出方法及びこれを用いた微小流路
62 制御システム及び制御システムのパラメータ設定方法
63 配向計
64 エネルギー監視システム
65 バイオチップおよび分析装置
66 圧力伝送器及び過大圧保護用部品
67 配向計
68 記録計制御装置及びプログラム
69 現場指示計
70 バイオチップ、バイオチップ読み取り装置、およびバイオチップ読み取り方法
71 光量計測装置および光量計測方法
72 バイオチップ読み取り装置およびバイオチップ読み取り方法
73 標本化装置
74 検査信号生成装置及び半導体検査装置
75 検査信号生成装置及び半導体検査装置
76 送電線の振動検出装置
77 半導体テスタ装置
78 化学反応評価装置
79 データ処理装置
80 光波形観測装置
81 ICテスタ
82 波形測定装置
83 検査信号生成装置及び半導体検査装置
84 ヘッド・マウント・ディスプレイ装置
85 光変調装置及び光変調器制御方法
86 ハンドラー管理システム
87 伝送制御装置
88 制御ループ診断装置
89 プラント運転支援装置及びプラント運転支援方法
90 プラント運転支援装置
91 プログラム管理装置
92 化学反応用カートリッジおよびその使用方法
93 発振制御装置及び同期システム
94 ガス吸着を用いた測定装置および測定方法
95 化学処理用カートリッジおよびその使用方法
96 共焦点顕微鏡
97 ICテスタ
98 光源装置
99 テスタ
100 変換演算装置

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