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番号 発明の名称
1 光学位置検出装置
2 カラーフィルタの製造方法およびそれに用いる露光方法
3 穴寸法測定装置
4 傾斜角測定装置
5 眼鏡システム
6 レーザー用ターゲット装置
7 照度計
8 光学機器の重量均衡装置
9 電子レベルと電子レベルの合焦制御方法
10 水準測量用標尺
11 干渉測定装置及び干渉測定方法
12 干渉測定用装置及び干渉測定用方法
13 配管用レーザ照射装置
14 手術用顕微鏡
15 レンズメータ
16 測光装置
17 光波距離計
18 測量機の自動焦点装置
19 測量機の自動焦点装置
20 レンズメータ
21 レンズメータ
22 距離測定機及び距離測定機の受光部調整方法
23 リムレスフレーム取付孔検出装置及びその玉型形状測定装置
24 眼鏡の玉型形状測定装置
25 測量機及び測量方法
26 傾斜制御装置と、傾斜制御方法
27 レンズメータ
28 波面センサ、これを用いたレンズメータ及び能動光学式反射望遠鏡
29 レンズメータ
30 レーザ基準面形成装置及び建設機械制御システム
31 赤外フィルター
32 表面検査装置
33 表面検査装置
34 表面検査装置
35 ターゲット、測量装置及び測量方法
36 レーザ基準面による建設機械制御システム
37 測光装置
38 ステレオ画像測定装置
39 ステレオ画像の測定装置
40 レーザ測量機
41 レンズメータ
42 表面検査装置
43 位置測定設定装置及び位置測定設定方法
44 ロータリーエンコーダ
45 レーザ光照射光学系と、レーザーガイド装置
46 カードの真贋判定装置
47 カード真偽判定装置
48 カードの真贋判定装置
49 双眼実体顕微鏡
50 レーザ勾配設定装置
51 眼鏡フレーム合成システム及び眼鏡フレーム販売方法
52 位置測定装置及び位置測定方法
53 レーザ照射装置

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