米国特許情報 | 欧州特許情報 | 国際公開(PCT)情報 | Google の米国特許検索
 
     特許分類
A 農業
B 衣類
C 家具
D 医学
E スポ−ツ;娯楽
F 加工処理操作
G 机上付属具
H 装飾
I 車両
J 包装;運搬
L 化学;冶金
M 繊維;紙;印刷
N 固定構造物
O 機械工学
P 武器
Q 照明
R 測定; 光学
S 写真;映画
T 計算機;電気通信
U 核技術
V 電気素子
W 発電
X 楽器;音響


  ホーム -> 測定; 光学 -> 日本電子株式会社

番号 発明の名称
1 試料ホルダおよび試料ステージ
2 エネルギー分散形X線検出器を備えた表面分析装置
3 電子プローブマイクロアナライザ
4 電子プローブマイクロアナライザ
5 応力分布画像測定方法
6 応力分布画像測定方法
7 NMRプローブ
8 仕事関数測定法および仕事関数測定装置
9 質量分析装置
10 電子スピン共鳴装置
11 NMRセル
12 プローブ加工方法およびプローブ加工装置
13 液体クロマトグラフ−NMR法
14 液体クロマトグラフ−NMR法
15 走査プローブ顕微鏡
16 エレクトロスプレー・イオン源
17 超臨界流体測定用NMRセルシステム
18 走査プローブ顕微鏡
19 走査型プローブ顕微鏡
20 走査形プローブ顕微鏡
21 光電子分光装置
22 赤外線応力分布画像システム
23 赤外線応力分布画像システム
24 走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法及び走査プローブ顕微鏡用粒子状試料体
25 カソードルミネッセンス分光装置
26 NMR用高圧セル
27 試料分析装置
28 核磁気共鳴装置
29 走査型プローブ顕微鏡
30 電子スピン共鳴装置及び電子スピン共鳴装置用試料ホルダー
31 赤外線応力分布画像システム
32 磁場勾配発生装置
33 NMR用ロック装置
34 走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法
35 走査形プローブ顕微鏡
36 表面分析装置
37 高周波誘導結合プラズマ質量分析方法及び装置
38 半導体デバイス評価方法及び装置
39 固体NMR測定用高速スピナー
40 検出器
41 X線分析装置
42 赤外分光装置
43 カソードルミネッセンス分光装置
44 表面分析機器におけるスペクトル表示装置
45 試料温度制御装置
46 赤外線応力画像装置
47 磁場内導電材料の製造方法
48 座標リンク機構
49 熱伝導体
50 探針評価法および走査形プローブ顕微鏡
51 走査形プローブ顕微鏡
52 複合生化学・免疫自動分析装置
53 NMR用フローセル
54 回転体検出装置
55 回転体検出装置
56 積層膜物体の膜厚測定方法
57 電子顕微鏡加速管の真空圧力表示装置
58 試料保持装置
59 NMR試料管の操作方法及び操作用具
60 オージェ電子分光装置およびオージェ電子分光分析法
61 磁場発生装置およびこれを用いた磁気共鳴力顕微鏡
62 飛行時間型質量分析装置用データ収集方法及び装置並びにデータ処理方法及び装置
63 試料搬送装置
64 集束イオンビーム装置用標準試料
65 試料ホルダ
66 走査形プローブ顕微鏡
67 電子分光装置
68 PCB異性体の保持時間校正方法
69 試料分析装置および放射線制限絞りのキャリブレーション方法
70 X線光電子分光装置のアナライザ透過関数の決定方法
71 チップ作製方法およびそのチップ
72 電子スピン共鳴装置用空胴共振器
73 電子分光装置における分析位置設定方法
74 NMR装置
75 ピエゾスキャナの歪み補正方法

[1]
 

 


     NEWS
会社検索順位 特許の出願数の順位が発表

URL変更
平成6年
平成7年
平成8年
平成9年
平成10年
平成11年
平成12年
平成13年


 
   お問い合わせ info@patentjp.com patentjp.com   Copyright 2007-2013