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番号 発明の名称
1 変位測定装置
2 電子部品認識装置及びライン型データ入力装置の校正方法
3 光パルス試験器
4 光パルス試験システム
5 超音波光周波数シフタ及びそれを用いたマイケルソン型スペクトル線幅測定装置
6 光学系装置
7 車軸通過検知装置
8 光学系
9 光ファイバ保持具
10 三次元表面形状測定装置
11 位相校正機能を有する受信機、位相差校正方法、及び位相差検出装置、並びに電波方向探知装置
12 携帯型測定器
13 光パルス試験器
14 光パルス試験装置
15 金属検出機
16 画像認識装置及び該装置を用いた外観検査装置
17 変位測定装置
18 凹凸検出装置及び方法
19 金属検出機
20 金属検出機
21 信号処理装置
22 変位測定装置及び方法
23 信号解析装置
24 測定装置のパラメータ設定支援装置
25 ジッタ測定器
26 信号分析装置
27 ピーク検出装置
28 信号分析装置
29 サンプラ
30 測定装置
31 信号分析装置
32 プリント基板検査装置
33 印刷半田測定装置
34 プリント基板検査装置
35 プリント基板検査装置
36 プリント基板検査装置
37 ガス濃度測定処理装置
38 位相ゆらぎ検出装置
39 光検出装置
40 光スペクトラムアナライザ
41 分散供給装置及び該装置を用いた組合わせ計量装置
42 組合わせ計量装置
43 測定装置
44 測定装置
45 組合わせ計量装置
46 近傍界測定システム
47 カード取引処理装置
48 高周波デバイス測定プログラムを記録した記憶媒体並びに高周波デバイス測定装置及び方法
49 光ファイバケーブルの取付構造および取付方法
50 光・電気変換ユニット用光ファイバ芯線の実装構造
51 信号分析装置
52 光スキャナ
53 組合せ計量装置
54 プリント基板検査装置及び方法並びに該装置及び方法に用いられるプリント基板検査用ゲージ
55 組合せ計量装置
56 偏波モード分散測定方法および偏波モード分散測定システム
57 周波数測定装置
58 半導体デバイス測定装置
59 光モジュール用パッケージ
60 食品安全管理装置及び食品安全管理プログラムを記録した記録媒体
61 組合せ計量装置
62 赤外線放射器
63 信号分析装置
64 スペクトル線幅可変光源装置
65 波長分散測定装置
66 カード取引処理装置
67 食堂カード販売システム
68 赤外線吸収体及び赤外線吸収板並びに赤外線吸収体製造方法
69 X線異物検出装置
70 X線検出ユニット及びX線異物検出装置
71 組合せ計量装置
72 組合せ計量装置
73 X線異物検出装置
74 X線異物検出装置
75 X線異物検出装置
76 計量装置及び組合せ計量装置
77 組合せ計量装置
78 組合せ計量装置
79 組合せ計量装置
80 ポイントカードシステム
81 搬送トラフ及び該トラフを用いた組合せ計量装置
82 異物検査装置
83 異物検査装置
84 組合せ計量機の重量測定装置
85 組合せ計量装置
86 計量装置
87 組合せ計量装置
88 組合せ計量装置

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