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番号 発明の名称
1 E/Oスイッチ制御装置、および、E/Oスイッチの制御方法
2 マルチモード光ファイバ用光時間領域後方散乱測定装置、その光源部及び光源部の製造方法
3 ICソケット付きDUTボード
4 テストバーンインボード管理方法及びバーンイン試験システム
5 オートハンドラ、その制御方法、及び記憶媒体
6 波形生成回路
7 ICソケット
8 オートハンドラ用キャリア
9 外部機器シミュレータ
10 集積回路試験装置のメモリにおけるデータ書込方法及び装置
11 デバイス測定装置及び被測定デバイスの温度変化抑制方法
12 ICテスタ、ICテスタのテスト方法、及び記憶媒体
13 デバイス測定装置
14 波長計
15 波長計
16 光パルス試験器
17 周波数偏差測定方法及び周波数偏差測定装置
18 周波数偏差測定方法及び周波数偏差測定装置
19 半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体
20 通信回線の抵抗測定装置、通信回線の抵抗測定方法、及び記憶媒体
21 テストヘッドの接続機構
22 フェルール保持機構
23 光変調装置及び記憶媒体
24 光ファイバ波長分散分布測定装置
25 偏波モード分散測定及び零分散波長測定装置
26 バーンイン装置
27 光パルス試験器
28 周波数スペクトル解析方法及び周波数スペクトル解析装置
29 TAB用オートハンドラ及びTAB用オートハンドラにおける処理方法
30 テストヘッドの位置決め装置
31 光波長分散測定装置、及び光波長分散測定方法
32 バーンインボード、テストバーンイン装置およびテストバーンイン装置におけるスキュー補正方法
33 半導体試験プログラム検査装置及び半導体試験プログラム検査方法
34 テストバーンイン装置及びバーンインボード
35 テストバーンイン装置、及びテストバーンイン装置における制御方法
36 テストバーンイン装置及びバーンイン試験方法
37 オートハンドラ用ハンド
38 IC試験データ出力装置、IC試験データ出力方法および記憶媒体
39 電流制限回路
40 集積回路試験装置
41 半導体試験装置
42 IC試験装置
43 ICテスタ、及びIC試験方法
44 IC測定装置及びその温度制御方法
45 波形観測治具および波形観測装置
46 BGA形ICの接触方法およびキャリア
47 ICテスタとICソケット番号設定方法
48 オートハンドラ、及びその接地状態検出方法
49 ICテスタ用DC測定回路
50 コンソール装置、その制御方法、及び記憶媒体
51 バーンイン試験システム、バーンイン試験方法、及び記憶媒体
52 波長測定装置
53 オートハンドラ及びデバイスローテーション方法
54 波長測定装置の分光器の波長校正方法と波長測定方法及びその装置
55 波長測定器
56 バーンイン試験システム、バーンイン試験方法及び記憶媒体
57 キャリア識別システム、キャリア識別方法および記憶媒体
58 オートハンドラ
59 光減衰器、光測定器、及び、光量調節方法
60 光コネクタ付ファイバ検査装置
61 テストヘッドの接続装置
62 光干渉計
63 波長変化測定器
64 IC試験装置の電源装置及びIC試験装置の制御ユニット
65 バーンイン試験装置、および、被試験デバイスの分類方法
66 低温ハンドラとテストヘッドの接続機構
67 オートハンドラ、及びそのアース線断線検出方法
68 オートハンドラ及びICの測定方法
69 テストボード試験装置、及びテストボード試験方法
70 光ファイバケーブルの余長処理装置
71 ICの押圧機構とオートハンドラ
72 ICテストシステムにおけるオートハンドラ、ICプリテスト方法、及びその記憶媒体
73 偏光依存性の少ない受光モジュールおよび受光方法
74 多心光ファイバ検査方法,その方法を実施する装置および光減衰素子
75 光ファイバの特性測定装置及び特性測定方法
76 波長分散測定方法およびその装置
77 ICソケット
78 ICテスタ、及びそのパターンデータ転送方法
79 ソフトウェア組み込み装置、ソフトウェア組み込み方法、及び記憶媒体
80 シーケンス制御回路
81 4段式分光器
82 ICテスタおよびその制御方法
83 光の色識別方法,表示灯の点灯色識別方法及びその方法を実施する装置,光電気変換回路
84 半導体集積回路試験装置
85 ICパッケージ検査用ヒートプレート
86 TAB用オートハンドラにおける位置決め方法及びTAB用オートハンドラ
87 IC試験装置及びIC試験方法
88 電流供給制御装置
89 フェイルデータログ書込み回路
90 ICテスタ、及びその試験方法
91 不良解析装置、そのアドレス変換方法、及び記憶媒体
92 バーンインテストシステムの良否判定ボードおよびその良否判定結果記憶方法
93 バーンインテストシステム
94 ICテスタ、そのテスト結果表示方法、及び記憶媒体
95 バーンインボードの補強構造
96 ICテスタ、及びその期待値信号不良検出方法
97 半導体試験装置

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