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番号 発明の名称
1 着座機構
2 線形測長器及び測長方法
3 タッチ信号プローブの着座機構
4 静電容量式変位測定装置
5 測定機器の情報管理方法
6 内側測定用基準器、その内側測定用基準器の製造方法、および、その内側測定用基準器を保持する保持装置
7 変位測定器
8 変位測定方法及びシステム
9 変位測定装置
10 光学式変位測定装置
11 正反射型変位計
12 正反射型変位計
13 波長安定化可干渉性光源装置
14 光波長測定方法及び装置
15 トレンド補正方法
16 光学式測定装置のレンズ倍率認識方法及び光学式測定システム
17 画像測定機のテーブル撓み補正方法及び装置
18 ワーク形状測定システム
19 光電式エンコーダ
20 光学測定機器用リモートコントローラ
21 位置検出装置
22 3点法による形状測定方法及び装置
23 変位測定装置
24 静電容量式センサ
25 画像計測方法及び装置
26 位置決めステージ
27 表面性状測定プローブ
28 ゲージブロック
29 測定器
30 ねじ形状測定方法
31 タッチセンサ
32 格子干渉型変位測定装置
33 タッチセンサ
34 拡散照明方法及び装置
35 外側マイクロメータの替アンビル取付装置
36 一次元測定機
37 一次元測定機
38 一次元測定機
39 格子干渉型変位測定装置
40 一次元測定機
41 表面形状測定方法
42 レーザ干渉装置
43 光学式形状測定装置
44 表面性状測定機における凹凸部抽出方法
45 位置依存振幅符号化を有する位置検出器
46 姿勢調整装置
47 光学式エンコーダ
48 撮像空間の幾何学的歪み解消方法
49 同期整流器
50 表面性状測定機
51 表面性状測定機用検出器
52 駆動装置
53 逓倍パルス発生回路
54 光学式顕微鏡
55 マイクロメータ
56 マイクロメータ
57 V溝形状測定方法及び装置
58 測定機の衝突防止装置
59 顕微鏡
60 画像プローブ
61 顕微鏡の明暗視野切換装置
62 光学器械の照明装置
63 顕微鏡
64 顕微鏡
65 顕微鏡ユニット
66 偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡
67 静電容量式変位検出装置
68 静電容量式変位検出装置
69 表面性状測定機のセンサー校正装置
70 変位検出装置
71 平面計測用位相シフト干渉計の光学的位相制御装置、光学的位相制御方法及び光学的位相制御プログラムを格納した記憶媒体
72 平面形状計測装置、平面形状計測方法及び該方法を実行するプログラムを記憶した記憶媒体
73 画像計測装置
74 対向平面平行度測定方法及び装置
75 変位検出装置
76 対向平面平行度測定装置
77 変位測定装置
78 プローブの検査方法及び装置
79 静電容量式変位センサ
80 表面性状測定機のスライダ駆動装置
81 静電容量式変位検出装置
82 静電容量式変位検出装置及びその製造方法
83 測定機の回転精度補正方法
84 測定機の真直精度補正方法
85 真円度測定装置
86 真円度測定装置及びその心出し水平出し方法
87 距離測定装置
88 測定装置
89 形状計測装置
90 形状測定方法
91 缶体の検査装置
92 電動レボルバ
93 開ループ光強度較正方法及び装置
94 容器の測定装置
95 干渉測長機
96 缶体の測定装置および缶体の測定方法
97 測定装置
98 幾何要素測定装置及び方法
99 静電容量式変位検出装置
100 対向平面平行度測定装置

[1][2]
 

 


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