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番号 発明の名称
1 半導体試験装置
2 ID認識方式及びその方式を用いたID認識装置
3 半導体試験装置のICハンドラ装置
4 電圧電流発生測定装置及びこれを用いる半導体試験装置の電圧電流発生測定装置
5 半導体デバイス試験装置及び試験方法
6 半導体試験装置
7 半導体試験装置の電源供給装置
8 半導体試験装置の冷却装置
9 コネクタ、試験装置、及び接触検査方法
10 タイミング校正方法及びこのタイミング校正方法を用いて校正動作する位相補正回路を搭載したIC試験装置
11 IC試験装置
12 漏液検知方法・漏液検知装置・冷却装置
13 周波数誤差検出方法及び周波数誤差検出装置
14 試験装置
15 波形取得方法及びこの方法を用いて動作する波形取得装置
16 遅延時間判定装置
17 光パルス発生器
18 サンプリングスコープ
19 ネットワークアナライザ
20 電子部品試験装置用加熱板
21 電子部品試験装置用インサート
22 電子部品試験装置用インサート
23 ICハンドラ装置のICコンタクト部
24 タイミング保持機能を搭載したIC試験装置
25 試験装置
26 パターン発生方法・このパターン発生方法で制御されるパターン発生器・IC試験装置
27 遅延クロック生成装置及び半導体試験装置
28 OTDR測定装置
29 電源電流測定装置
30 半導体デバイス試験装置のタイミング校正用コンタクトボード・このコンタクトボードに接触するプローブ
31 電流測定装置および電流測定方法
32 スペクトラムアナライザ
33 半導体試験装置の半導体試験用プログラム実行方法
34 半導体試験用プログラムデバッグ装置
35 測定器制御アダプター、測定システム、測定器制御方法及び記録媒体
36 半導体試験装置
37 デジタル掃引型スペクトラムアナライザ
38 ネットワーク・アナライザの測定誤差補正装置及び方法
39 計測器、計測器制御装置、計測システム、測定処理実行方法及び記録媒体
40 電子部品試験装置および電子部品の試験方法
41 半導体試験装置
42 マイクロファブリケーションで形成するコンタクトストラクチャ
43 コンタクタ用ピック・プレイスメカニズム
44 半導体集積回路の試験装置及び試験方法
45 半導体集積回路試験装置のソケット間相関試験方法
46 電子部品吸着装置および電子部品試験装置
47 波形フォーマッタ・この波形フォーマッタを搭載した半導体デバイス試験装置
48 ICと電気的に接続するコネクタ
49 試験装置
50 周波数偏差除外データ取得装置、方法および周波数偏差除外データ取得プログラムが記録されている記録媒体
51 IC試験方法
52 半導体デバイス試験装置のタイミング位相校正方法・装置
53 電子部品試験装置
54 遅延信号生成装置およびその遅延量を調整する方法
55 サンプル検査及び/又は処理装置
56 負荷容量付き水晶振動子の測定方法
57 ピンブロック・ストラクチャ
58 タイミング発生器
59 イベント型半導体テストシステム
60 ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法および記録媒体
61 シリコン・フィンガ・コンタクタを有するコンタクトストラクチャおよびそれを用いた総合組立構造
62 モジュール型半導体試験システム
63 回路試験装置
64 複数の仮想テスタをサポートする半導体テストシステム
65 電子回路網の診断装置及びこの診断装置を用いた診断方法
66 混成信号集積回路用半導体試験システム
67 分光器および分光方法
68 半導体デバイス試験装置のスキュー調整方法・スキュー調整装置
69 試験装置および試験方法
70 タイミング調整方法、半導体試験装置におけるタイミングキャリブレーション方法
71 電流源回路
72 環境測定方法及び装置
73 化学物質検出方法及び装置
74 表面状態測定装置及び方法
75 電位検査回路、デバイス検査装置および電位検査方法
76 ICテストに使用される自動ソーティング装置のジグ
77 パターン発生器、パターン発生方法及び試験装置
78 定電圧電源回路および定電圧電源回路基板
79 半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置
80 データ変換装置、方法および記録媒体
81 半導体試験装置
82 半導体集積回路の故障シミュレーション方法および故障シミュレータ
83 幅可変光学スリット機構
84 半導体デバイス試験装置のタイミング校正装置
85 プローブの交換針及びこの交換針を用いたプローブ
86 定電圧電源回路および試験装置
87 部品試験装置および試験方法
88 部品試験装置およびそれに用いる部品保持装置
89 電子部品試験装置
90 電波源特定方法及び装置
91 テストパターン妥当性検証方法及びその装置
92 異常監視方法および異常監視装置
93 波形計測装置、方法、記録媒体
94 波形計測装置、方法、記録媒体
95 波形計測装置、方法、記録媒体
96 スペクトラムアナライザ
97 ネットワークアナライザ、ネットワーク分析方法およびネットワーク分析プログラムを記録した記録媒体
98 IC試験装置における電圧発生器の校正方法・電圧発生器の校正装置
99 ジッタ測定装置及びその方法
100 被試験ICの応答出力信号読取方法及びこの読取方法を用いたIC試験装置

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