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番号 発明の名称
1 光学的厚さ計
2 分光器
3 ガス分析装置
4 蛋白質検出方法および蛋白質チップ作製装置
5 波形測定装置
6 波形観測装置
7 半導体テスト装置
8 共焦点光スキャナ
9 データ格納表示装置
10 ペーパーレスレコーダ
11 データ記録表示装置
12 環境監視システム
13 共焦点光スキャナ
14 プラント運転支援装置
15 共焦点光スキャナ
16 記録計
17 計器図表示装置及び計器図表示プログラムを記録した記録媒体
18 プラント監視システム
19 イベント収集装置
20 温度制御装置
21 アナログ信号出力装置
22 分光分析用バイアルビン
23 近赤外アルカリ濃度分析装置
24 溶存酸素計
25 三相交流用測定器
26 測定装置
27 波形解析装置
28 ICテスタ
29 共焦点顕微鏡装置
30 2線式伝送器
31 波形測定器
32 データ収集装置及び測定データの保存方法
33 ジッタ計測装置
34 計測システム
35 計測システム
36 測定装置
37 データ収集装置及び測定データの保存方法
38 半導体圧力測定装置とその製造方法
39 圧力測定装置及び圧力校正装置
40 微粒子成分分析装置
41 時刻補正機能付き計測器
42 プラント監視システム
43 静電容量式重量測定装置
44 バイオチップ作製方法およびそれを用いたバイオチップ作製装置
45 測定器
46 物理値変換装置及び物理値変換方法
47 半導体試験方法及び試験装置
48 液晶表示装置
49 電空ポジショナ
50 バルブポジショナ
51 プラントの統合監視システム
52 レーザ距離計及びレーザ距離計を用いたレベル計
53 カルマン渦流量計
54 静電容量式重量測定装置
55 分光分析計
56 温度計測器
57 半導体テスト装置
58 積雪測定システム
59 通信方法及びこれを用いた操作監視システム
60 イベント記録の解析方法
61 注入制御システム
62 分光画像装置
63 光スキャナ及びこれを用いた断層画像撮影装置
64 分光分析計
65 半導体検査装置
66 圧力測定装置
67 気化器
68 実効電流測定器
69 液晶表示装置
70 二重化I/Oモジュール装置
71 データロガー装置
72 分光装置
73 テストシステム
74 設備監視システム
75 容量式電磁流量計
76 超音波レベル計
77 電力測定器
78 分光分析計
79 基板表面検査装置
80 2次元位置決め装置
81 厚さ測定装置
82 崩落検知システム
83 流量測定装置
84 RMS測定装置
85 共焦点用光スキャナユニット
86 測定機器並びにデータ収集機器及びこれらを用いた測定システム
87 測定器
88 測定装置
89 ジッタ測定回路とそれを用いたICテスタ
90 X/Yステージ
91 バルブポジショナのチューニング方法及びバルブポジショナ
92 位置検出装置
93 圧力センサ
94 バルブの流体リーク量測定方法及び装置
95 位置決め装置とその停止方法
96 測定器制御管理装置
97 渦流量計
98 電磁流量計
99 超音波レベル計
100 微粒子成分分析装置

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