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発明の名称 波形観測装置
発行国 日本国特許庁(JP)
公報種別 公開特許公報(A)
公開番号 特開2001−4668(P2001−4668A)
公開日 平成13年1月12日(2001.1.12)
出願番号 特願平11−178366
出願日 平成11年6月24日(1999.6.24)
代理人
発明者 佐藤 研志 / 竹下 幸人 / 相川 誠
要約 目的


構成
特許請求の範囲
【請求項1】入力信号を波形表示する波形観測装置において、前記入力信号を測定し、測定波形データを発生する測定部と、この測定部からの測定波形データを複数格納する記憶部と、前記記憶部の測定波形データを選択する選択手段とこの記憶部の2以上の選択された測定波形データを入力し、入力された測定波形データの平均波形データを発生するアベレージ手段と、前記記憶部に記憶された測定波形データと前記平均波形データを表示部に表示するデータ制御手段と、を備えたことを特徴とする波形観測装置。
【請求項2】前記データ制御手段は、前記測定波形データと前記平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示するように構成されたことを特徴とする請求項1に記載の波形観測装置。
【請求項3】前記データ制御手段は、前記選択手段によって選択された任意の前記測定波形データを前記表示部に表示するように構成されたことを特徴とする請求項1に記載の波形観測装置。
【請求項4】前記データ制御手段は、前記アベレージ手段に入力された前記測定波形データを前記表示部に表示するように構成されたことを特徴とする請求項1に記載の波形観測装置。
【請求項5】前記記憶部は、前記平均波形データを格納するように構成されたことを特徴とする請求項1に記載の波形観測装置。
発明の詳細な説明
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力信号を波形表示する波形観測装置に関し、特にアベレージ手段を改善することによって、任意の測定波形データを用いてアベレージ処理を行うことを可能とした波形観測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の波形観測装置、例えばデジタルオシロスコープは、入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去するアベレージ手段を備えている。
【0003】アベレージ手段は、予め定められたn回の測定を行い、ここで得られたn個の測定波形データの各サンプル点のデータの平均値を求めることによって平均波形データを発生し、入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去するものである。
【0004】図3は上述したアベレージ手段によって3回の測定によって得られた測定波形データ31〜33にアベレージ処理を施し、平均波形データ34を発生した図である。アベレージ処理を行うとその測定波形データに含まれている繰り返し信号は平均化しても値は変わらないがランダムノイズ成分は平均化するとその性質上、値はゼロに近づく。従って、従来の波形観測装置では、入力信号の測定波形データをアベレージ処理することによって、入力信号に含まれるランダムノイズ成分を除去した平均波形データを発生し、この平均波形データを用いて入力信号の解析を行っていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の波形観測装置では、予め定められた連続するn回の測定によって得られたn個の測定波形データを用いて平均波形データを発生することによりアベレージ処理を行っていたため、n回の測定中に例えば測定ミス等よって他の測定波形データと大きく異なる異常な測定波形データが記憶手段に記憶された場合、これを含んで発生された平均波形データに誤差を生ずる場合があるという問題点があった。
【0006】また、従来の波形観測装置では、アベレージ処理に用いた測定波形データは、平均波形データを求めた時点で消去されてしまうため、アベレージ処理に用いた測定波形データを解析することができないという問題点があった。
【0007】本発明は、上記課題を解決するもので、アベレージ処理に用いる測定データを記憶手段に格納すると共に、この記憶手段に記憶された測定データの中から任意の測定データを選択し、ここで選択された測定波形データを用いてアベレージ処理を行うことが可能な波形観測装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成するために請求項1に記載の発明では、入力信号を波形表示する波形観測装置において、前記入力信号を測定し、測定波形データを発生する測定部と、この測定部からの測定波形データを複数格納する記憶部と、この記憶部の2以上の選択された測定波形データを入力し、入力された測定波形データの平均波形データを発生するアベレージ手段と、前記記憶部に記憶された測定波形データと前記平均波形データを表示部に表示するデータ制御手段と、前記記憶部の測定波形データを選択する選択手段と、を備えたことを特徴とするものである。
【0009】このような構成によれば、記憶手段に複数の測定波形データを格納することが可能になるとともに、ここに格納された複数の測定波形データから任意の測定波形データを選択しアベレージ処理を施すことが可能となる。
【0010】また、請求項2のようには、測定波形データと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示することによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同一画面上で比較することが可能となる。
【0011】更に請求項3のように、記憶部に格納された複数の測定波形データの中から表示部に表示させる測定波形データを選択可能とすることによって、解析したい測定波形データのみを表示部に表示させることが可能となる。
【0012】また、請求項4のようにアベレージ処理に用いた測定波形データと平均波形データを表示手段の同一画面上に表示させることによって、どのような測定波形データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把握できる。
【0013】このようにして得られた平均波形データを請求項5のように記憶部に格納することによって、アベレージ処理後の波形を保存することが可能となる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。図1は本発明に係る波形観測装置の一実施例を示す構成図である。
【0015】図1において、測定部1は入力信号を測定し、デジタルデータすなわち測定波形データを発生する。ヒストリメモリ2は記憶部で、測定値1から入力される測定波形データを複数格納する。
【0016】データ制御手段3はヒストリメモリ2から測定波形データを読み出し、表示部4例えば、CRTやLCDに波形表示を行う。そして、データ制御手段3はアベレージ手段31を具備している。
【0017】アベレージ手段31は、ヒストリメモリに記憶された複数の測定波形データの中から2以上の波形測定データを選択し、この2以上の波形測定データに対して各サンプル点のデータの平均値を求めることによって平均波形データを発生し、表示部4に表示する。
【0018】選択手段5は、例えば、キー等でアベレージ手段31に入力するヒストリメモリ2の測定波形データを選択すると共に、表示器4に表示させる測定波形データ及び平均波形データを選択する。
【0019】このように構成された装置の動作を以下に説明する。
【0020】測定部1は、入力信号を測定し、ヒストリメモリ2にトリガ回数分の測定波形データを格納する。データ制御手段3は、ヒストリメモリ2から格納された測定波形データを読み出し、表示手段4に読み出した測定波形データを重ね書きする。これによって入力信号の測定波形データを表示部4に表示することができる。これが本発明のデータ観測装置における通常測定の動作である。
【0021】次に選択手段5により、アベレージ手段が選択された場合、上記の動作によって表示部4に表示された測定波形データからアベレージ処理に用いる測定波形データを、例えば、表示部4の画面上に表示された測定波形データの番号等を用いて選択する。
【0022】ここで選択された測定波形データは、ヒストリメモリ2からアベレージ手段31に入力され、ここで各測定波形データの各サンプル点のデータの平均値が算出され、平均波形データが求められる。この平均波形データが入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去された入力信号の波形である。
【0023】データ制御手段3は、ここで得られた平均波形データを表示部4に測定波形データと共に同時表示する。これが本発明のデータ観測装置におけるアベレージ手段の動作である。
【0024】図2は、表示部4に表示された測定波形データと平均波形データの表示例である。同図において、上部の領域41はヒストリメモリ2に格納された測定波形データを表示する領域であり、下部の領域42は平均波形データを表示する領域である。また、領域41に表示する測定波形データはアベレージ処理に用いられた測定波形データを選択表示することも可能であるし、選択手段5によって任意の測定波形データを表示することも可能である。
【0025】また、上記の説明ではアベレージ処理に用いる測定波形データを選択手段5によって選択する方法について説明したが、ヒストリメモリ2に予め設定された数の測定波形データが格納された時点でヒストリメモリ2に格納された測定波形データをアベレージ手段31に入力することによってアベレージ処理を自動化する構成としても良い。これは、例えば、ランダムノイズが多く混入した入力信号を測定する場合のようにアベレージ処理後の波形しか必要としない場合に有効である。
【0026】なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
【0027】例えば、ヒストリメモリ2を測定波形データの格納用領域と平均波形データ格納用領域の2つに分割し、アベレージ処理後の平均波形データをヒストリメモリ2の平均波形データ格納用領域へ保存できるように構成された波形観測装置も本発明の範囲である。
【0028】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。請求項1に記載の発明では、記憶手段に格納された複数の測定波形データから任意の測定波形データを選択してアベレージ処理を行うことが可能となる。従って、記憶手段に格納された複数の測定波形データから異常な測定波形データを除外し最適な複数の測定波形データを選択してアベレージ処理を施すことが可能となる。
【0029】請求項2に記載の発明では、測定波形データと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示することによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同一画面上で比較することが可能となる。
【0030】請求項3に記載の発明では、記憶部に格納された複数の測定波形データの中から表示部に表示させる測定波形データを選択可能とすることによって、解析したい測定波形データのみを表示部に表示させることが可能となる。
【0031】請求項4に記載の発明では、アベレージ処理に用いた測定波形データと平均波形データを表示手段の同一画面上に表示させることによって、どの測定波形データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把握できる。
【0032】請求項5に記載の発明では、アベレージ処理後の波形を保存することが可能となる。




 

 


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