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番号 発明の名称
1 高精度パターンの外観検査装置及びその検査方法
2 ナビゲーション装置
3 薄膜分子配向評価法及び評価装置並びに記録媒体
4 コンタクタ及びテストボード
5 サンプラーを用いた測定方法及び装置
6 測定装置
7 半導体集積回路の消費電力計算システムとその消費電力計算方法および情報記録媒体
8 バーンイン装置
9 集積回路試験装置及び試験方法
10 出力遅延時間測定用テスト方法およびそのテスト回路
11 ビットエラーレート測定方法及びその測定装置
12 レール走行車両の衝突防止装置
13 光モジュールとその製造方法
14 光モジュール実装基板およびその製造方法
15 光回路とその製造方法
16 光導波路及びその製造方法
17 フォトニック結晶を用いた光結合素子および光結合方法
18 光コネクタ
19 フェルール固定構造
20 光モジュール用セラミック基板の製造方法、光モジュール用セラミック基板、および光モジュール
21 液晶パネルのイオン密度測定方法およびその装置
22 液晶表示方法および装置
23 アクティブマトリクス型液晶表示装置
24 液晶表示装置
25 液晶表示パネル及びその製造方法
26 薄膜トランジスタアレイ基板及びその製造方法
27 液晶表示装置及びその製造方法
28 納品単位在庫管理システム
29 三次元形状計測方法及び装置並びに記録媒体
30 半導体中の不純物の評価方法
31 高周波プローブおよびその使用方法
32 集積回路の故障検出方法及び故障検出装置及びその制御プログラムを記録した記憶媒体
33 FM−CWレーダ装置
34 MSAS信号による標準時計装置
35 温度無依存アレイ導波路格子素子
36 光パワー監視器
37 光半導体素子および光通信装置
38 液晶表示装置及びその製造方法
39 生産計画支援システム、生産計画評価方法および記録媒体
40 二次イオン質量分析のための定量用標準試料の作製方法
41 検査プローブとその製造方法
42 ベアチップ検査用補助装置と検査方法
43 故障伝搬経路推定方法、故障伝搬経路推定装置及び記録媒体
44 半導体試験装置
45 レーダ装置
46 光モジュールおよびその製造方法
47 吸収型光変調器およびその製造方法
48 アクティブマトリクス型液晶表示装置とその製造方法
49 反射型液晶表示器及び電子機器
50 アクティブマトリクス型液晶表示装置
51 CFオンTFTパネル及びその製造方法
52 車両救援システム
53 局所領域格子歪測定装置
54 走査型プロ−ブ顕微鏡及びその測定方法
55 疑似GPS衛星
56 液晶表示装置
57 光波長変換器
58 カーナビゲーションシステムおよびカーナビゲーション方法
59 赤外線イメージセンサ
60 アレイ導波回折格子の測定装置
61 X線位相差撮像方法及びX線位相差撮像装置
62 プリント配線板布線検査装置
63 半導体装置の裏面解析用基板
64 半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法
65 追尾センサ及び追尾方式
66 位置認証システム及びこれに用いる電子機器
67 アクティブ信号処理方式
68 光結合構造とその製造方法、並びに光路変換アダプタ、光実装構造
69 光結合装置
70 液晶表示素子
71 アクティブマトリクス型液晶表示装置
72 液晶表示装置
73 液晶表示パネル
74 配向のずれ角の測定方法、測定装置及び液晶素子の製造方法
75 液晶表示素子及びその製造方法
76 液晶表示パネル及びその製造方法
77 液晶表示パネル及び液晶表示パネルの製造方法
78 アクティブマトリクス型液晶表示装置
79 電源装置
80 車輌エマジェンシーシステム
81 異方性薄膜の評価方法及び評価装置
82 バンプ接合部検査装置及び方法
83 制限透過膜及び制限透過膜の製造方法、並びに化学センサ及び化学センサの製造方法
84 電気検査用プローブ
85 半導体集積回路試験装置およびその故障時の復旧方法
86 電気光学プローブ及びそれを用いた検査方法
87 ファーフィールドモニタ装置
88 映像信号処理回路
89 最寄り駅において次に発車する列車時刻を表示する時計
90 光学スキャナ装置
91 液晶表示装置およびその駆動方法
92 液晶表示モジュールの実装構造および実装方法
93 カラーフィルタを備えた液晶表示パネル用基板の製造方法
94 液晶表示装置及びその製造方法
95 液晶表示パネル用基板および液晶表示パネルの製造方法
96 工程手順チェックシステム
97 通信型映像販売システム及びその通信型映像販売方法
98 音声案内ナビゲーション装置および方法、並びに音声案内ナビゲーションプログラムを記録した記録媒体
99 IC外観検査方法
100 ナビゲーションシステム

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