米国特許情報 | 欧州特許情報 | 国際公開(PCT)情報 | Google の米国特許検索
 
     特許分類
A 農業
B 衣類
C 家具
D 医学
E スポ−ツ;娯楽
F 加工処理操作
G 机上付属具
H 装飾
I 車両
J 包装;運搬
L 化学;冶金
M 繊維;紙;印刷
N 固定構造物
O 機械工学
P 武器
Q 照明
R 測定; 光学
S 写真;映画
T 計算機;電気通信
U 核技術
V 電気素子
W 発電
X 楽器;音響


  ホーム -> 測定; 光学 -> 株式会社日立製作所

番号 発明の名称
1 一体形差圧式流量計
2 空気流量測定装置
3 熱式空気流量計
4 カラーディスプレイ装置の画質評価方法と画質評価装置およびカラーディスプレイ装置の製造方法
5 破断検知機構
6 塩素イオンセンサ
7 自動分析装置における測光系のキャリブレーション方法
8 放射線強度分布測定装置
9 液晶表示装置
10 光スイッチ
11 磁気記録装置の浮上量測定装置
12 熱式空気流量計
13 残留応力測定方法およびその装置
14 光ファイバセンサ
15 ドライタイプ圧力検出装置
16 未燃物濃度測定装置及び触媒診断装置
17 塩素イオンセンサ
18 キャピラリ−電気泳動装置
19 磁気ディスクの浮上性能検査装置、及び検査方法
20 液体クロマトグラフ直結質量分析法及びその装置
21 自動分析装置
22 検体搬送システム
23 自動分析装置
24 自動分析装置
25 微小部光物性測定装置
26 走査型プローブ顕微鏡
27 コネクタおよびそれを用いる半導体検査方法ならびに装置
28 論理エミュレーション装置
29 半導体装置の試験方法及び半導体試験装置
30 信号配線の接続テスト方法、テスト装置及びバウンダリスキャン対応のIC
31 放射能測定システム
32 液晶表示装置及びその製造方法
33 液晶を搭載した電子機器
34 微粒子散布装置
35 液晶表示装置および電極形成用マスク
36 液晶表示装置
37 プラント監視画面作成方法、プラント監視画面作成装置、プラント監視方法、プラント監視装置
38 河川管理施設運用ガイダンスシステム
39 河川管理施設運用ガイダンスシステム
40 交通流計測方法及び装置
41 厚膜パターン検査装置および厚膜多層基板の製造方法
42 電子ビーム欠陥検査方法および装置
43 ベクトル地図における所定時間内到達可能範囲算出方法
44 経路探索装置
45 圧力検出装置
46 シャシダイナモメータとそのドラム移動機構
47 半導体装置の製造方法
48 真空中基板検査装置
49 X線撮像方法
50 電位測定装置及び発電プラントの配管系統
51 液体クロマトグラフ直結質量分析方法及び装置
52 水質監視システム
53 多項目自動分析装置
54 保護制御システム
55 超音波を利用した変位計測システムおよび変位計測装置
56 プラスチックレンズ
57 面光源装置および液晶表示装置
58 投写形液晶表示装置および液晶パネル
59 液晶表示装置
60 投射型液晶表示装置
61 液晶表示装置
62 液晶表示装置の液晶注入方法
63 液晶表示装置およびその製造方法
64 半導体装置の製造方法
65 液晶表示装置
66 プラント制御装置
67 予防保全方法
68 有料道路の自動料金収受システム及びその車載機
69 渋滞区間推定方法および渋滞区間推定装置
70 道路案内方法およびシステム
71 Cr含有オーステナイト合金の鋭敏化評価方法及びその装置
72 自動分析装置
73 電流センサ及びこれを内蔵した電気装置
74 校正装置および中性子束測定装置
75 導波路型光素子及びこれを用いた光送信モジュール並びに集積化光導波素子
76 液晶表示装置
77 イオン源操作方法及び質量分析装置
78 グレ−ティングを用いた導波路型の合分波器
79 アクティブマトリクス型液晶表示装置およびその駆動方法
80 薄膜積層体検査方法
81 自動分析装置
82 自動分析装置における検体ラックの搬送方法
83 コイル検査装置
84 変圧器鉄心の直流磁束測定方法および装置
85 光導波路及びその製造方法
86 光伝送モジュール及びその製造方法
87 液晶表示素子
88 投写型画像表示装置
89 液晶表示装置
90 液晶表示装置
91 自動化システムにおけるトラッキング方法および装置
92 制御操作表示システム
93 駐車場の出入口設置装置
94 自動機
95 基体温度測定方法
96 遠心力載荷試験装置
97 光学ピンセット
98 塩基配列決定装置
99 分注装置
100 半導体加速度センサ

[1][2][3][4][5][6][7][8]
 

 


     NEWS
会社検索順位 特許の出願数の順位が発表

URL変更
平成6年
平成7年
平成8年
平成9年
平成10年
平成11年
平成12年
平成13年


 
   お問い合わせ info@patentjp.com patentjp.com   Copyright 2007-2013