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株式会社東芝 - 特許情報
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     特許分類
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番号 発明の名称
1 洗濯機用水準器
2 表示装置の監視装置
3 温度センサおよびその製造方法ならびに同センサを使用した警報装置
4 打撃診断装置
5 ワーク検査装置
6 自動分析装置
7 磁気センサ
8 高機能型計装ラック
9 光変調装置と波長アド・ドロップモジュール
10 タンク温度制御装置
11 自動改札システム
12 プラント監視装置
13 電磁流量計
14 出荷量制御装置
15 埋め込み式測温素子の取り付け位置検出方法
16 水質検出装置
17 デマンド監視装置
18 ガス絶縁機器の部分放電検出方法とその装置
19 遅延素子試験装置および試験機能を有する集積回路
20 キックテスト試験装置
21 ファンクションテスタ
22 距離測定装置
23 X線平面検出器
24 オンアレイ方式のカラーフィルターの製造方法
25 光送受信装置
26 レセプタクル型光送受信装置およびその製造方法
27 光ファイバー心線、光ファイバーコイル及び光ファイバー心線の製造方法
28 液晶セルの組立装置
29 プラント運転制御装置
30 プラントの制御装置
31 温度制御回路および半導体集積回路
32 自動改集札システム
33 コインの画像入力装置およびコイン識別装置
34 紙幣鑑査装置及び紙幣鑑査装置の補正方法
35 ハンディターミナル装置
36 半導体集積回路の腐食面積測定方法および装置
37 流量測定装置
38 圧力差伝送装置
39 ポリ塩化ビフェニルの分解反応進行度の測定方法およびポリ塩化ビフェニル分解装置
40 PT,CT用テストプラグのチェック装置
41 事故点標定装置
42 レーダ目標角度測定装置
43 放射線監視装置
44 光走査装置及びこの光走査装置を利用した画像形成装置
45 バックライト付リモコン用液晶
46 液晶表示装置およびその製造方法
47 アクティブマトリクス基板の製造方法
48 制御シーケンスプログラムのモニタ装置
49 プラント監視装置
50 プラント異常診断装置
51 券発行装置
52 駅務集中監視システム及び駅務集中監視方法
53 時間制限付き乗車券処理システム及び方法
54 自動改札機と自動改札システム
55 紙幣処理装置
56 自動取引装置
57 通帳処理装置
58 媒体処理装置およびこれを備えた自動取引装置
59 自動取引装置
60 試料面位置測定装置及び測定方法
61 ガイドレール組合せ決定装置およびその方法
62 ガス絶縁機器の部分放電検出方法
63 面光源装置
64 光走査装置並びにこの光走査装置を利用した画像形成装置
65 液晶表示素子、投影型液晶表示装置及び基板
66 待機冗長システム
67 プラント運転制御装置
68 位置決め装置
69 自動取引装置における操作画面表示方法
70 アラーム管理装置
71 経路検索装置および移動履歴利用システム
72 計測装置および計測方法
73 異定格検出装置
74 反射型液晶表示素子
75 液晶表示装置
76 表示装置用アレイ基板の製造方法
77 プラント操作装置
78 自動取引装置
79 電子マニュアル表示装置及び方法並びに監視装置
80 圧延計測器の位置決め装置
81 外観検査装置
82 金属材料の材料強度評価方法並びに拡散層厚さ評価方法及びその装置
83 タービン発電機のロータ中心孔検査装置
84 故障部位検出方法および装置
85 パルス分析装置
86 受信装置
87 信号分析装置
88 核医学診断装置
89 核医学診断装置
90 核医学診断装置
91 核種分析装置
92 導光板
93 ステレオメガネ
94 液晶表示素子
95 光照射装置及び液晶表示装置
96 液晶表示素子
97 表示装置
98 アクティブマトリクス型液晶表示装置
99 アレイ基板および液晶表示装置
100 アクティブマトリクス型液晶表示装置

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