番号 発明の名称 1 絶対位置検出装置 2 引張試験機 3 液晶パネルの画像検査方法 4 光デイスク検査装置 5 入力装置 6 光コネクタ 7 フォーカス調整装置およびその方法 8 液晶表示パネルの検査方法 9 偏光板の検出方法 10 アクティブマトリクス型液晶表示装置の駆動方法 11 液晶表示素子用ガラス基板の加工方法 12 液晶ディスプレイ装置 13 ビューファインダ 14 液晶表示装置 15 液晶表示パネル用配向膜の洗浄方法 16 非線形光学薄膜素子およびその作製方法 17 タッチパネル型スイッチ装置 18 横波音速測定装置及びこれを利用したヤング率及び／又はポアソン比測定装置 19 気体中の塩分の分析装置及びその使用方法 20 光学顕微鏡 21 能動素子基板 22 液晶表示パネルの検査装置 23 アクティブマトリクス液晶表示装置 24 傾斜角検出装置 25 光吸収係数測定方法及び光吸収係数測定装置 26 時計装置 27 映像再生装置 28 液晶バックライトユニット 29 加減速パターン生成装置及び加減速パターン生成方法、並びにこれに用いる逆運動学問題の解法と時間軸補正方法 30 磁区観察装置 31 配向膜の形成方法 32 アクティブマトリクス基板 33 位置決め装置、３軸マニピュレータ、２軸水平スカラロボット及び１軸ステージ装置 34 マスフローコントローラー 35 安定化電源回路及びそれを備えた充電回路 36 位相検出装置 37 距離測定装置 38 ナビゲーション装置 39 固体撮像素子評価用光学装置 40 サンプリング系位置検出装置 41 ズームレンズ 42 接眼レンズ 43 接眼レンズ 44 液晶映像投射装置 45 液晶表示装置 46 液晶表示装置 47 光源一体型波長変換素子 48 光源一体型波長変換素子 49 サンプリング系センサのアラーム処理装置 50 測位システム、及び、測位センサー、記録媒体、変換装置 51 光源の方向及び又は位置検出方法及びその装置 52 接着強度測定用サンプル 53 プラズマ損傷の評価方法およびその評価サンプルの製造方法 54 音響再生装置 55 アクティブマトリックス基板の製造方法および検査方法と液晶表示装置の製造方法 56 液晶演算装置 57 昇圧電圧調整回路 58 絶対位置検出装置 59 入力装置 60 自己診断方法およびそのための制御装置 61 温度センサとその製法 62 エージング治具 63 半導体装置の特性測定用の基板構造 64 測定装置 65 ズームレンズ 66 液晶表示装置の駆動方法 67 液晶パネルの製造方法 68 保護回路 69 回転検出装置 70 液面レベル計 71 印刷面検査装置 72 周波数測定装置及びその方法 73 プロジェクタ装置 74 操作装置 75 光導波路の厚さ測定装置 76 液位検出装置 77 温度センサ 78 液体濃度検出装置 79 光学素子及び光学ピックアップ装置 80 加圧接着用治具 81 液晶式プロジェクタ 82 プロジェクタ装置 83 プラズマアドレス液晶表示装置 84 帯電式スペーサ粒子散布方法 85 電気機器の可変電気素子調整装置 86 ３次元形状の復元方法とその装置 87 光ファイバジャイロ用光ファイバコイル 88 不良分類データ管理装置とそれを用いた不良分類データ集中管理システム 89 画像認識方法および画像認識装置とそれを用いた実装機 90 光導波路装置及びその製造方法 91 光導波路装置 92 光導波路装置 93 撮像装置 94 マルチビーム結像装置 95 液晶ディスプレイ駆動用ＴＦＴ基板 96 アクティブマトリクス基板 97 ワイヤボンディングの検査方法 98 時刻報知装置 99 カメラ装置 100 画像描画装置

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