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番号 発明の名称
1 試料高さ計測装置
2 外観検査方法及び外観検査装置
3 撮像プロセス同定装置
4 顕微ラマン分光光度計を用いた温度測定装置
5 液槽式熱衝撃試験装置
6 多孔質体における気孔率等の分析法
7 燃焼ガス中の金属成分計測方法及び装置
8 表面分析装置
9 液体金属イオン源及びそのエミッタとリザーバの加熱洗浄装置
10 超音波探触子の保持方法
11 液体試料自動サンプリング装置
12 二相流計測装置
13 光モジュール
14 カラー液晶表示装置
15 プログラマブルコントローラ
16 車両のアクティブ振動騒音制御装置
17 自動券売機
18 カップ式自動販売機
19 プラント運転制御盤
20 機器の異常監視方法および装置
21 熱式流量計
22 熱式空気流量計
23 線形被検体透過率測定装置
24 異物検出装置
25 劣化診断方法
26 集積回路のバーンイン方式
27 テストパターン発生装置
28 超電導量子干渉素子およびこれを用いたデジタル駆動磁束計
29 光偏光素子
30 光強度変調素子および光強度変調器
31 液晶表示装置
32 紙葉類取扱装置
33 紙葉類の磁気ストライプ読み取り装置
34 計量販売商品の販売価格決定方法及びPOS端末装置
35 位置検出装置
36 装置異常判定方式
37 空気流量測定装置
38 赤外輻射スペクトルによる温度測定方法及び装置
39 水車ランナのアンバランス計測装置
40 産業プラントの検査評価方法及び装置
41 血液溶血検出方法
42 自動分析装置
43 プリント基板検査装置
44 液晶投射型ディスプレイ
45 アクティブマトリクス型液晶表示装置及びその駆動方法
46 液晶表示素子およびその製造方法
47 ディジタル調節計
48 プロセス情報表示システム
49 監視装置
50 事象再現装置
51 走査型トンネル顕微鏡
52 点検保守履歴管理システム
53 薄膜の応力測定法と応力測定用試験片の製造方法及び製造装置
54 免震要素試験装置
55 トランスミッション試験装置
56 エンジンの燃焼状態検出方法及びその装置
57 水質汚染監視装置及びその方法
58 パターン検出方法とその装置
59 光熱変換分析方法及びその装置
60 二本鎖核酸の検出方法とその装置
61 半導体集積回路装置
62 半導体装置
63 半導体集積回路
64 ディスプレイ装置
65 液晶表示装置
66 液晶表示装置
67 紙葉類取扱装置の厚み検知方法
68 回路基板パターンの寸法計測方法及び装置
69 膜厚変化測定方法
70 回路基板パターンの寸法計測方法とその装置、並びに回路基板の良否選別方法とその装置
71 位置検出装置
72 プラント機器監視支援システム
73 空気流量測定装置
74 火炎レーザ計測方法
75 ひずみ計測器
76 磁歪式トルクセンサ用磁歪検出体およびその製造方法
77 溶解性微粒子の分離・測定方法及びその装置
78 樹脂材料の表示方法
79 非線形光学定数測定法
80 微生物認識表示装置
81 X線分析方法および装置
82 レーザサンプリング分析装置
83 オーステナイト系ステンレス鋼の鋭敏化検出方法
84 直流主回路の電流測定装置およびそれを用いた直流遮断器
85 過電流検出回路
86 表面電位測定装置
87 ICソケット
88 核磁気共鳴用マグネットのコイル構成方法及びそれを用いた核磁気共鳴装置
89 半導体式β線測定装置
90 投射型ディスプレイ
91 アクティブマトリクス型液晶表示装置の駆動方法
92 多階調電圧発生回路
93 バックライトユニット
94 液晶表示装置
95 アクティブマトリクス液晶表示装置
96 割基板組立用NCデータ作成方法
97 同期調相機の制御装置
98 取引装置の表示制御方法
99 火炎光検出装置
100 火炎光検出装置

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